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最全面場(chǎng)效應管開(kāi)關(guān)電路詳解的文章,初學(xué)入門(mén)必讀

信息來(lái)源:本站 日期:2017-09-20 

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什么是MOS管MOS管的英文全稱(chēng)叫MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor),即金屬氧化物半導體型場(chǎng)效應管,屬于場(chǎng)效應管中的絕緣柵型。因此,MOS管有時(shí)被稱(chēng)為絕緣柵場(chǎng)效應管。在普通電子電路中,MOS管通常被用于放大電路或開(kāi)關(guān)電路。

1、MOS管的構造

在一塊摻雜濃度較低的P型半導體硅襯底上,用半導體光刻、擴散工藝制造兩個(gè)高摻雜濃度的N+區,并用金屬鋁引出兩個(gè)電極,分別作為漏極D和源極S。然后在漏極和源極之間的P型半導體表面復蓋一層很薄的二氧化硅(Si02)絕緣層膜,在再這個(gè)絕緣層膜上裝上一個(gè)鋁電極,作為柵極G。這就構成了一個(gè)N溝道(NPN型)增強型MOS管。顯然它的柵極和其它電極間是絕緣的。圖1-1所示 A 、B分別是它的結構圖和代表符號。


同樣用上述相同的方法在一塊摻雜濃度較低的N型半導體硅襯底上,用半導體光刻、擴散工藝制造兩個(gè)高摻雜濃度的P+區,及上述相同的柵極制造過(guò)程,就制成為一個(gè)P溝道(PNP型)增強型MOS管。圖1-2所示A 、B分別是P溝道MOS管道結構圖和代表符號。

2、MOS管的工作原理

從圖1-3-A可以看出,增強型MOS管的漏極D和源極S之間有兩個(gè)背靠背的PN結。當柵-源電壓VGS=0時(shí),即使加上漏-源電壓VDS,總有一個(gè)PN結處于反偏狀態(tài),漏-源極間沒(méi)有導電溝道(沒(méi)有電流流過(guò)),所以這時(shí)漏極電流ID=0。此時(shí)若在柵-源極間加上正向電壓,圖1-3-B所示,即VGS>0,則柵極和硅襯底之間的SiO2絕緣層中便產(chǎn)生一個(gè)柵極指向P型硅襯底的電場(chǎng),由于氧化物層是絕緣的,柵極所加電壓VGS無(wú)法構成電流,氧化物層的兩邊就構成了一個(gè)電容,VGS等效是對這個(gè)電容充電,并構成一個(gè)電場(chǎng),隨著(zhù)VGS逐漸升高,受柵極正電壓的吸收,在這個(gè)電容的另一邊就聚集大量的電子并構成了一個(gè)從漏極到源極的N型導電溝道,當VGS大于管子的開(kāi)啟電壓VT(普通約為 2V)時(shí),N溝道管開(kāi)端導通,構成漏極電流ID,我們把開(kāi)端構成溝道時(shí)的柵-源極電壓稱(chēng)為開(kāi)啟電壓,普通用VT表示??刂茤艠O電壓VGS的大小改動(dòng)了電場(chǎng)的強弱,就可以抵達控制漏極電流ID的大小的目的,這也是MOS管用電場(chǎng)來(lái)控制電流的一個(gè)重要特性,所以也稱(chēng)之為場(chǎng)效應管。


3、MOS管的特性

上述MOS管的工作原理中可以看出,MOS管的柵極G和源極S之間是絕緣的,由于Sio2絕緣層的存在,在柵極G和源極S之間等效是一個(gè)電容存在,電壓VGS產(chǎn)生電場(chǎng)從而招致源極-漏極電流的產(chǎn)生。此時(shí)的柵極電壓VGS決議了漏極電流的大小,控制柵極電壓VGS的大小就可以控制漏極電流ID的大小。這就可以得出如下結論:1) MOS管是一個(gè)由改動(dòng)電壓來(lái)控制電流的器件,所以是電壓器件。2) MOS管道輸入特性為容性特性,所以輸入阻抗極高。


4、MOS管的電壓和符號

圖1-4-A 是N溝道MOS管的符號,圖中D是漏極,S是源極,G是柵極,中間的箭頭表示襯底,如果箭頭向里表示是N溝道的MOS管,箭頭向外表示是P溝道的MOS管。


在實(shí)際MOS管生產(chǎn)的過(guò)程中襯底在出廠(chǎng)前就和源極連接,所以在符號的規則中;表示襯底的箭頭也必須和源極相連接,以區別漏極和源極。圖1-5-A是P溝道MOS管的符號。


MOS管應用電壓的極性和我們普通的晶體三極管相同,N溝道的類(lèi)似NPN晶體三極管,漏極D接正極,源極S接負極,柵極G正電壓時(shí)導電溝道建立,N溝道MOS管開(kāi)始工作,如圖1-4-B所示。同樣P道的類(lèi)似PNP晶體三極管,漏極D接負極,源極S接正極,柵極G負電壓時(shí),導電溝道建立,P溝道MOS管開(kāi)始工作,如圖1-5-B所示。


5、MOS在開(kāi)關(guān)電源電路

1)、大功率MOS管和大功率晶體三極管相比MOS管的優(yōu)點(diǎn);1)、輸入阻抗高,驅動(dòng)功率?。河捎跂旁粗g是二氧化硅(SiO2)絕緣層,柵源之間的直流電阻基本上就是SiO2絕緣電阻,普通達100MΩ左右,交流輸入阻抗基本上就是輸入電容的容抗。由于輸入阻抗高,對鼓舞信號不會(huì )產(chǎn)生壓降,有電壓就可以驅動(dòng),所以驅動(dòng)功率極?。`敏度高)。普通的晶體三極管必需有基極電壓Vb,再產(chǎn)生基極電流Ib,才干驅動(dòng)集電極電流的產(chǎn)生。晶體三極管的驅動(dòng)是需求功率的(Vb×Ib)。


2)、開(kāi)關(guān)速度快:MOSFET的開(kāi)關(guān)速度和輸入的容性特性的有很大關(guān)系,由于輸入容性特性的存在,使開(kāi)關(guān)的速度變慢,但是在作為開(kāi)關(guān)運用時(shí),可降低驅動(dòng)電路內阻,加快開(kāi)關(guān)速度(輸入采用了后述的“灌流電路”驅動(dòng),加快了容性的充放電的時(shí)間)。MOSFET只靠多子導電,不存在少子儲存效應,因而關(guān)斷過(guò)程非常疾速,開(kāi)關(guān)時(shí)間在10—100ns之間,工作頻率可達100kHz以上,普通的晶體三極管由于少數載流子的存儲效應,使開(kāi)關(guān)總有滯后現象,影響開(kāi)關(guān)速度的進(jìn)步(目前采用MOS管的開(kāi)關(guān)電源其工作頻率可以隨意的做到100K/S~150K/S,這關(guān)于普通的大功率晶體三極管來(lái)說(shuō)是難以想象的)。


3)、無(wú)二次擊穿;由于普通的功率晶體三極管具有當溫度上升就會(huì )招致集電極電流上升(正的溫度~電流特性)的現象,而集電極電流的上升又會(huì )招致溫度進(jìn)一步的上升,溫度進(jìn)一步的上升,更進(jìn)一步的招致集電極電流的上升這一惡性循環(huán)。而晶體三極管的耐壓VCEO隨管溫度升高是逐步降落,這就構成了管溫繼續上升、耐壓繼續降落最終招致晶體三極管的擊穿,這是一種招致電視機開(kāi)關(guān)電源管和行輸出管損壞率占95%的破環(huán)性的熱電擊穿現象,也稱(chēng)為二次擊穿現象。MOS管具有和普通晶體三極管相反的溫度~電流特性,即當管溫度(或環(huán)境溫度)上升時(shí),溝道電流IDS反而降落。例如;一只IDS=10A的MOS FET開(kāi)關(guān)管,當VGS控制電壓不變時(shí),在250C溫度下IDS=3A,當芯片溫度升高為1000C時(shí),IDS降低到2A,這種因溫度上升而招致溝道電流IDS降落的負溫度電流特性,使之不會(huì )產(chǎn)生惡性循環(huán)而熱擊穿。也就是MOS管沒(méi)有二次擊穿現象,可見(jiàn)采用MOS管作為開(kāi)關(guān)管,其開(kāi)關(guān)管的損壞率大幅度的降低,近兩年電視機開(kāi)關(guān)電源采用MOS管替代過(guò)去的普通晶體三極管后,開(kāi)關(guān)管損壞率大大降低也是一個(gè)極好的證明。


4)、MOS管導通后其導通特性呈純阻性;普通晶體三極管在飽和導通是,幾乎是直通,有一個(gè)極低的壓降,稱(chēng)為飽和壓降,既然有一個(gè)壓降,那么也就是;普通晶體三極管在飽和導通后等效是一個(gè)阻值極小的電阻,但是這個(gè)等效的電阻是一個(gè)非線(xiàn)性的電阻(電阻上的電壓和流過(guò)的電流不能契合歐姆定律),而MOS管作為開(kāi)關(guān)管應用,在飽和導通后也存在一個(gè)阻值極小的電阻,但是這個(gè)電阻等效一個(gè)線(xiàn)性電阻,其電阻的阻值和兩端的電壓降和流過(guò)的電流契合歐姆定律的關(guān)系,電流大壓降就大,電流小壓降就小,導通后既然等效是一個(gè)線(xiàn)性元件,線(xiàn)性元件就可以并聯(lián)應用,當這樣兩個(gè)電阻并聯(lián)在一同,就有一個(gè)自動(dòng)電流平衡的作用,所以MOS管在一個(gè)管子功率不夠的時(shí)分,可以多管并聯(lián)應用,且不用另外增加平衡措施(非線(xiàn)性器件是不能直接并聯(lián)應用的)。


二:灌流電路

1、MOS管作為開(kāi)關(guān)管的驅動(dòng)電路;


灌流電路MOS管和普通晶體三極管相比,有諸多的優(yōu)點(diǎn),但是在作為大功率開(kāi)關(guān)管應用時(shí),由于MOS管具有的容性輸入特性,MOS管的輸入端,等于是一個(gè)小電容器,輸入的開(kāi)關(guān)鼓舞信號,理論上是在對這個(gè)電容中止反復的充電、放電的過(guò)程,在充放電的過(guò)程中,使MOS管道導通和關(guān)閉產(chǎn)生了滯后,使“開(kāi)”與“關(guān)”的過(guò)程變慢,這是開(kāi)關(guān)元件不能允許的(功耗增加,燒壞開(kāi)關(guān)管),如圖所示,在圖2-1中 A方波為輸入端的鼓舞波形,電阻R為鼓舞信號內阻,電容C為MOS管輸入端等效電容,鼓舞波形A加到輸入端是對等效電容C的充放電作用,使輸入端理論的電壓波形變成B的畸變波形,招致開(kāi)關(guān)管不能正常開(kāi)關(guān)工作而損壞,處置的方法就是,只需R足夠的小,以致沒(méi)有阻值,鼓舞信號能提供足夠的電流,就能使等效電容疾速的充電、放電,這樣MOS開(kāi)關(guān)管就能疾速的“開(kāi)”、“關(guān)”,保證了正常工作。由于鼓舞信號是有內阻的,信號的鼓舞電流也是有限度,我們在作為開(kāi)關(guān)管的MOS管的輸入部分,增加一個(gè)減少內阻、增加鼓舞電流的“灌流電路”來(lái)處置此問(wèn)題,如圖2-2所示。



在圖2-2中;在作為開(kāi)關(guān)應用的MOS管Q3的柵極S和鼓舞信號之間增加Q1、Q2兩只開(kāi)關(guān)管,此兩雖然均為普通的晶體三極管,兩雖然接成串聯(lián)銜接,Q1為NPN型Q2為PNP型,基極銜接在一同(理論上是一個(gè)PNP、NPN互補的射極跟隨器),兩雖然等效是兩只在方波鼓舞信號控制下輪番導通的開(kāi)關(guān),如圖2-2-A、圖2-2-B當鼓舞方波信號的正半周來(lái)到時(shí);晶體三極管Q1(NPN)導通、Q2(PNP)截止,VCC經(jīng)過(guò)Q1導通對MOS開(kāi)關(guān)管Q3的柵極充電,由于Q1是飽和導通,VCC等效是直接加到MOS管Q3的柵極,瞬間充電電流極大,充電時(shí)間極短,保證了MOS開(kāi)關(guān)管Q3的疾速的“開(kāi)”,如圖2-2-A所示(圖2-2-A和圖2-2-B中的電容C為MOS管柵極S的等效電容)。當鼓舞方波信號的負半周來(lái)到時(shí);晶體三極管Q1(NPN)截止、Q2(PNP)導通,MOS開(kāi)關(guān)管Q3的柵極所充的電荷,經(jīng)過(guò)Q2疾速放電,由于Q2是飽和導通,放電時(shí)間極短,保證了MOS開(kāi)關(guān)管Q3的疾速的“關(guān)”,如圖2-2-B所示。

由于MOS管在制造工藝上柵極S的引線(xiàn)的電流容量有一定的限度,所以在Q1在飽和導通時(shí)VCC對MOS管柵極S的瞬時(shí)充電電流龐大,極易損壞MOS管的輸入端,為了維護MOS管的安全,在細致的電路中必需采取措施限制瞬時(shí)充電的電流值,在柵極充電的電路中串接一個(gè)恰當的充電限流電阻R,如圖2-3-A所示。充電限流電阻R的阻值的選??;要根據MOS管的輸入電容的大小,鼓舞脈沖的頻率及灌流電路的VCC(VCC普通為12V)的大小決議普通在數十姆歐到一百歐姆之間。


由于充電限流電阻的增加,使在鼓舞方波負半周時(shí)Q2導通時(shí)放電的速度遭到限制(充電時(shí)是VCC產(chǎn)生電流,放電時(shí)是柵極所充的電壓VGS產(chǎn)生電流,VGS遠遠小于VCC,R的存在大大的降低了放電的速率)使MOS管的開(kāi)關(guān)特性變壞,為了使R阻值在放電時(shí)不影響疾速放電的速率,在充電限流電阻R上并聯(lián)一個(gè)構成放電通路的二極管D,圖2-3-B所示。此二極管在放電時(shí)導通,在充電時(shí)反偏截止。這樣增加了充電限流電阻和放電二極管后,既保證了MOS管的安全,又保證了MOS管,“開(kāi)”與“關(guān)”的疾速動(dòng)作。


2、另一種灌流電路灌流電路的另外一種方式,關(guān)于某些功率較小的開(kāi)關(guān)電源上采用的MOS管常常采用了圖2-4-A的電路方式。


D為充電二極管,Q為放電三極管(PNP)。工作過(guò)程是這樣,當鼓舞方波正半周時(shí),D導通,對MOS管輸入端等效電容充電(此時(shí)Q截止),在當鼓舞方波負半周時(shí),D截止,Q導通,MOS管柵極S所充電荷,經(jīng)過(guò)Q放電,MOS管完成“開(kāi)”與“關(guān)”的動(dòng)作,如圖2-4-B所示。此電路由鼓舞信號直接“灌流”,鼓舞信號源懇求內阻較低。該電路普通應用在功率較小的開(kāi)關(guān)電源上。


2、MOS管開(kāi)關(guān)應用中的作用

MOS管在開(kāi)關(guān)狀態(tài)工作時(shí);Q1、Q2是輪番導通,MOS管柵極是在反復充電、放電的狀態(tài),假設在此時(shí)關(guān)閉電源,MOS管的柵極就有兩種狀態(tài);一個(gè)狀態(tài)是;放電狀態(tài),柵極等效電容沒(méi)有電荷存儲,一個(gè)狀態(tài)是;充電狀態(tài),柵極等效電容正好處于電荷充溢狀態(tài),圖2-5-A所示。固然電源切斷,此時(shí)Q1、Q2也都處于斷開(kāi)狀態(tài),電荷沒(méi)有釋放的回路,MOS管柵極的電場(chǎng)仍然存在(能堅持很長(cháng)時(shí)間),樹(shù)立導電溝道的條件并沒(méi)有消逝。這樣在再次開(kāi)機瞬間,由于鼓舞信號還沒(méi)有樹(shù)立,而開(kāi)機瞬間MOS管的漏極電源(VDS)隨機提供,在導電溝道的作用下,MOS管即刻產(chǎn)生不受控的龐大漏極電流ID,惹起MOS管燒壞。為了避免此現象產(chǎn)生,在MOS管的柵極對源極并接一只泄放電阻R1,如圖2-5-B所示,關(guān)機后柵極存儲的電荷經(jīng)過(guò)R1疾速釋放,此電阻的阻值不可太大,以保證電荷的疾速釋放,普通在5K~數10K左右。

灌流電路主要是針對MOS管在作為開(kāi)關(guān)管運用時(shí)其容性的輸入特性,惹起“開(kāi)”、“關(guān)”動(dòng)作滯后而設置的電路,當MOS管作為其他用途;例如線(xiàn)性放大等應用,就沒(méi)有必要設置灌流電路。



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