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MOS管知識概述-結構圖文詳解與應用-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2019-01-03 

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什么是mos管

mos管是金屬(metal)、氧化物(oxide)、半導體(semiconductor)場(chǎng)效應晶體管,或者稱(chēng)是金屬—絕緣體(insulator)、半導體。MOS管的source和drain是可以對調的,他們都是在P型backgate中形成的N型區。在多數情況下,這個(gè)兩個(gè)區是一樣的,即使兩端對調也不會(huì )影響器件的性能。這樣的器件被認為是對稱(chēng)的。


場(chǎng)效應管(FET),把輸入電壓的變化轉化為輸出電流的變化。FET的增益等于它的跨導, 定義為輸出電流的變化和輸入電壓變化之比。市面上常有的一般為N溝道和P溝道,詳情參考右側圖片(P溝道耗盡型MOS管)。而P溝道常見(jiàn)的為低壓mos管。


場(chǎng)效應管通過(guò)投影一個(gè)電場(chǎng)在一個(gè)絕緣層上來(lái)影響流過(guò)晶體管的電流。事實(shí)上沒(méi)有電流流過(guò)這個(gè)絕緣體,所以FET管的GATE電流非常小。最普通的FET用一薄層二氧化硅來(lái)作為GATE極下的絕緣體。這種晶體管稱(chēng)為金屬氧化物半導體(MOS)晶體管,或,金屬氧化物半導體場(chǎng)效應管(MOSFET)。因為MOS管更小更省電,所以他們已經(jīng)在很多應用場(chǎng)合取代了雙極型晶體管。


mos管基本結構與工作原理

mos管學(xué)名是場(chǎng)效應管,是金屬-氧化物-半導體型場(chǎng)效應管,屬于絕緣柵型。本文就結構構造、特點(diǎn)、實(shí)用電路等幾個(gè)方面用工程師的話(huà)簡(jiǎn)單描述。其結構示意圖:

mos管


MOS場(chǎng)效應三極管分為:增強型(又有N溝道、P溝道之分)及耗盡型(分有N溝道、P溝道)。N溝道增強型MOSFET的結構示意圖和符號見(jiàn)上圖。其中:電極 D(Drain) 稱(chēng)為漏極,相當雙極型三極管的集電極;


電極 G(Gate) 稱(chēng)為柵極,相當于的基極;


電極 S(Source)稱(chēng)為源極,相當于發(fā)射極。


N溝道增強型MOS場(chǎng)效應管結構

在一塊摻雜濃度較低的P型硅襯底上,制作兩個(gè)高摻雜濃度的N+區,并用金屬鋁引出兩個(gè)電極,分別作漏極d和源極s。然后在半導體表面覆蓋一層很薄的二氧化硅(SiO2)絕緣層,在漏——源極間的絕緣層上再裝上一個(gè)鋁電極,作為柵極g。襯底上也引出一個(gè)電極B,這就構成了一個(gè)N溝道增強型MOS管。MOS管的源極和襯底通常是接在一起的(大多數管子在出廠(chǎng)前已連接好)。它的柵極與其它電極間是絕緣的。


圖(a)、(b)分別是它的結構示意圖和代表符號。代表符號中的箭頭方向表示由P(襯底)指向N(溝道)。P溝道增強型MOS管的箭頭方向與上述相反,如圖(c)所示。

mos管


N溝道增強型MOS場(chǎng)效應管的工作原理

(1)vGS對iD及溝道的控制作用


① vGS=0 的情況

從圖1(a)可以看出,增強型MOS管的漏極d和源極s之間有兩個(gè)背靠背的PN結。當柵——源電壓vGS=0時(shí),即使加上漏——源電壓vDS,而且不論vDS的極性如何,總有一個(gè)PN結處于反偏狀態(tài),漏——源極間沒(méi)有導電溝道,所以這時(shí)漏極電流iD≈0。


② vGS>0 的情況

若vGS>0,則柵極和襯底之間的SiO2絕緣層中便產(chǎn)生一個(gè)電場(chǎng)。電場(chǎng)方向垂直于半導體表面的由柵極指向襯底的電場(chǎng)。這個(gè)電場(chǎng)能排斥空穴而吸引電子。

排斥空穴:使柵極附近的P型襯底中的空穴被排斥,剩下不能移動(dòng)的受主離子(負離子),形成耗盡層。吸引電子:將 P型襯底中的電子(少子)被吸引到襯底表面。


(2)導電溝道的形成:

當vGS數值較小,吸引電子的能力不強時(shí),漏——源極之間仍無(wú)導電溝道出現,如圖1(b)所示。vGS增加時(shí),吸引到P襯底表面層的電子就增多,當vGS達到某一數值時(shí),這些電子在柵極附近的P襯底表面便形成一個(gè)N型薄層,且與兩個(gè)N+區相連通,在漏——源極間形成N型導電溝道,其導電類(lèi)型與P襯底相反,故又稱(chēng)為反型層,如圖1(c)所示。vGS越大,作用于半導體表面的電場(chǎng)就越強,吸引到P襯底表面的電子就越多,導電溝道越厚,溝道電阻越小。


開(kāi)始形成溝道時(shí)的柵——源極電壓稱(chēng)為開(kāi)啟電壓,用VT表示。


上面討論的N溝道MOS管在vGS<VT時(shí),不能形成導電溝道,管子處于截止狀態(tài)。只有當vGS≥VT時(shí),才有溝道形成。這種必須在vGS≥VT時(shí)才能形成導電溝道的MOS管稱(chēng)為增強型MOS管。溝道形成以后,在漏——源極間加上正向電壓vDS,就有漏極電流產(chǎn)生。


vDS對iD的影響

mos管


如圖(a)所示,當vGS>VT且為一確定值時(shí),漏——源電壓vDS對導電溝道及電流iD的影響與結型場(chǎng)效應管相似。


漏極電流iD沿溝道產(chǎn)生的電壓降使溝道內各點(diǎn)與柵極間的電壓不再相等,靠近源極一端的電壓最大,這里溝道最厚,而漏極一端電壓最小,其值為VGD=vGS-vDS,因而這里溝道最薄。但當vDS較?。╲DS


隨著(zhù)vDS的增大,靠近漏極的溝道越來(lái)越薄,當vDS增加到使VGD=vGS-vDS=VT(或vDS=vGS-VT)時(shí),溝道在漏極一端出現預夾斷,如圖2(b)所示。再繼續增大vDS,夾斷點(diǎn)將向源極方向移動(dòng),如圖2(c)所示。由于vDS的增加部分幾乎全部降落在夾斷區,故iD幾乎不隨vDS增大而增加,管子進(jìn)入飽和區,iD幾乎僅由vGS決定。


N溝道耗盡型MOS場(chǎng)效應管的基本結構

mos管


(1)結構:

N溝道耗盡型MOS管與N溝道增強型MOS管基本相似。


(2)區別:

耗盡型MOS管在vGS=0時(shí),漏——源極間已有導電溝道產(chǎn)生,而增強型MOS管要在vGS≥VT時(shí)才出現導電溝道。


(3)原因:

制造N溝道耗盡型MOS管時(shí),在SiO2絕緣層中摻入了大量的堿金屬正離子Na+或K+(制造P溝道耗盡型MOS管時(shí)摻入負離子),如圖1(a)所示,因此即使vGS=0時(shí),在這些正離子產(chǎn)生的電場(chǎng)作用下,漏——源極間的P型襯底表面也能感應生成N溝道(稱(chēng)為初始溝道),只要加上正向電壓vDS,就有電流iD。


如果加上正的vGS,柵極與N溝道間的電場(chǎng)將在溝道中吸引來(lái)更多的電子,溝道加寬,溝道電阻變小,iD增大。反之vGS為負時(shí),溝道中感應的電子減少,溝道變窄,溝道電阻變大,iD減小。當vGS負向增加到某一數值時(shí),導電溝道消失,iD趨于零,管子截止,故稱(chēng)為耗盡型。溝道消失時(shí)的柵-源電壓稱(chēng)為夾斷電壓,仍用VP表示。與N溝道結型場(chǎng)效應管相同,N溝道耗盡型MOS管的夾斷電壓VP也為負值,但是,前者只能在vGS<0的情況下工作。而后者在vGS=0,vGS>0。


P溝道耗盡型MOSFET

P溝道MOSFET的工作原理與N溝道MOSFET完全相同,只不過(guò)導電的載流子不同,供電電壓極性不同而已。這如同雙極型三極管有NPN型和PNP型一樣。


MOS管的特性

上述MOS管的工作原理中可以看出,MOS管的柵極G和源極S之間是絕緣的,由于SiO2絕緣層的存在,在柵極G和源極S之間等效是一個(gè)電容存在,電壓VGS產(chǎn)生電場(chǎng)從而導致源極-漏極電流的產(chǎn)生。此時(shí)的柵極電壓VGS決定了漏極電流的大小,控制柵極電壓VGS的大小就可以控制漏極電流ID的大小。這就可以得出如下結論:


1) mos管是一個(gè)由改變電壓來(lái)控制電流的器件,所以是電壓器件。


2) mos管道輸入特性為容性特性,所以輸入阻抗極高。


mos管作用

1.可應用于放大。由于場(chǎng)效應管放大器的輸入阻抗很高,因此耦合電容可以容量較小,不必使用電解電容器。


2.很高的輸入阻抗非常適合作阻抗變換。常用于多級放大器的輸入級作阻抗變換。


3.可以用作可變電阻。


4.可以方便地用作恒流源。


5.可以用作電子開(kāi)關(guān)。


6.在電路設計上的靈活性大。柵偏壓可正可負可零,三極管只能在正向偏置下工作,電子管只能在負偏壓下工作。另外輸入阻抗高,可以減輕信號源負載,易于跟前級匹配。


mos管發(fā)熱原因分析

做電源設計,或者做驅動(dòng)方面的電路,難免要用到MOS管。MOS管有很多種類(lèi),也有很多作用。做電源或者驅動(dòng)的使用,當然就是用它的開(kāi)關(guān)作用。


無(wú)論N型或者P型MOS管,其工作原理本質(zhì)是一樣的。MOS管是由加在輸入端柵極的電壓來(lái)控制輸出端漏極的電流。MOS管是壓控器件它通過(guò)加在柵極上的電壓控制器件的特性,不會(huì )發(fā)生像三極管做開(kāi)關(guān)時(shí)的因基極電流引起的電荷存儲效應,因此在開(kāi)關(guān)應用中,

MOS管的開(kāi)關(guān)速度應該比三極管快。其主要原理如圖:

mos管

MOS管的工作原理


在開(kāi)關(guān)電源中常用MOS管的漏極開(kāi)路電路,如圖2漏極原封不動(dòng)地接負載,叫開(kāi)路漏極,開(kāi)路漏極電路中不管負載接多高的電壓,都能夠接通和關(guān)斷負載電流。是理想的模擬開(kāi)關(guān)器件。這就是MOS管做開(kāi)關(guān)器件的原理。當然MOS管做開(kāi)關(guān)使用的電路形式比較多了。


mos管

NMOS管的開(kāi)路漏極電路


在開(kāi)關(guān)電源應用方面,這種應用需要MOS管定期導通和關(guān)斷。比如,DC-DC電源中常用的基本降壓轉換器依賴(lài)兩個(gè)MOS管來(lái)執行開(kāi)關(guān)功能,這些開(kāi)關(guān)交替在電感里存儲能量,然后把能量釋放給負載。我們常選擇數百kHz乃至1MHz以上的頻率,因為頻率越高,磁性元件可以更小更輕。在正常工作期間,MOS管只相當于一個(gè)導體。因此,我們電路或者電源設計人員最關(guān)心的是MOS的最小傳導損耗。


我們經(jīng)??碝OS管的PDF參數,MOS管制造商采用RDS(ON)參數來(lái)定義導通阻抗,對開(kāi)關(guān)應用來(lái)說(shuō),RDS(ON)也是最重要的器件特性。數據手冊定義RDS(ON)與柵極(或驅動(dòng))電壓VGS以及流經(jīng)開(kāi)關(guān)的電流有關(guān),但對于充分的柵極驅動(dòng),RDS(ON)是一個(gè)相對靜態(tài)參數。一直處于導通的MOS管很容易發(fā)熱。另外,慢慢升高的結溫也會(huì )導致RDS(ON)的增加。MOS管數據手冊規定了熱阻抗參數,其定義為MOS管封裝的半導體結散熱能力。RθJC的最簡(jiǎn)單的定義是結到管殼的熱阻抗。


其發(fā)熱情況有:


1.電路設計的問(wèn)題,就是讓MOS管工作在線(xiàn)性的工作狀態(tài),而不是在開(kāi)關(guān)狀態(tài)。這也是導致MOS管發(fā)熱的一個(gè)原因。如果N-MOS做開(kāi)關(guān),G級電壓要比電源高幾V,才能完全導通,P-MOS則相反。沒(méi)有完全打開(kāi)而壓降過(guò)大造成功率消耗,等效直流阻抗比較大,壓降增大,所以U*I也增大,損耗就意味著(zhù)發(fā)熱。這是設計電路的最忌諱的錯誤。


2.頻率太高,主要是有時(shí)過(guò)分追求體積,導致頻率提高,MOS管上的損耗增大了,所以發(fā)熱也加大了。


3.沒(méi)有做好足夠的散熱設計,電流太高,MOS管標稱(chēng)的電流值,一般需要良好的散熱才能達到。所以ID小于最大電流,也可能發(fā)熱嚴重,需要足夠的輔助散熱片。


4.MOS管的選型有誤,對功率判斷有誤,MOS管內阻沒(méi)有充分考慮,導致開(kāi)關(guān)阻抗增大。


mos管三個(gè)極分別是什么及判定方法

mos管的三個(gè)極分別是:G(柵極),D(漏極)s(源及),要求柵極和源及之間電壓大于某一特定值,漏極和源及才能導通。

mos管


1.判斷柵極G

MOS驅動(dòng)器主要起波形整形和加強驅動(dòng)的作用:假如MOS管的G信號波形不夠陡峭,在點(diǎn)評切換階段會(huì )造成大量電能損耗其副作用是降低電路轉換效率,MOS管發(fā)燒嚴峻,易熱損壞MOS管GS間存在一定電容,假如G信號驅動(dòng)能力不夠,將嚴峻影響波形跳變的時(shí)間。


將G-S極短路,選擇萬(wàn)用表的R×1檔,黑表筆接S極,紅表筆接D極,阻值應為幾歐至十幾歐。若發(fā)現某腳與其字兩腳的電阻均呈無(wú)限大,并且交換表筆后仍為無(wú)限大,則證實(shí)此腳為G極,由于它和另外兩個(gè)管腳是絕緣的。


2.判斷源極S、漏極D

將萬(wàn)用表?yè)苤罵×1k檔分別丈量三個(gè)管腳之間的電阻。用交換表筆法測兩次電阻,其中電阻值較低(一般為幾千歐至十幾千歐)的一次為正向電阻,此時(shí)黑表筆的是S極,紅表筆接D極。因為測試前提不同,測出的RDS(on)值比手冊中給出的典型值要高一些。


3.丈量漏-源通態(tài)電阻RDS(on)

在源-漏之間有一個(gè)PN結,因此根據PN結正、反向電阻存在差異,可識別S極與D極。例如用500型萬(wàn)用表R×1檔實(shí)測一只IRFPC50型VMOS管,RDS(on)=3.2W,大于0.58W(典型值)。


測試步驟:

MOS管的檢測主要是判斷MOS管漏電、短路、斷路、放大。


其步驟如下:

假如有阻值沒(méi)被測MOS管有漏電現象。


1、把連接柵極和源極的電阻移開(kāi),萬(wàn)用表紅黑筆不變,假如移開(kāi)電阻后表針慢慢逐步退回到高阻或無(wú)限大,則MOS管漏電,不變則完好


2、然后一根導線(xiàn)把MOS管的柵極和源極連接起來(lái),假如指針立刻返回無(wú)限大,則MOS完好。


3、把紅筆接到MOS的源極S上,黑筆接到MOS管的漏極上,好的表針指示應該是無(wú)限大。


4、用一只100KΩ-200KΩ的電阻連在柵極和漏極上,然后把紅筆接到MOS的源極S上,黑筆接到MOS管的漏極上,這時(shí)表針指示的值一般是0,這時(shí)是下電荷通過(guò)這個(gè)電阻對MOS管的柵極充電,產(chǎn)生柵極電場(chǎng),因為電場(chǎng)產(chǎn)生導致導電溝道致使漏極和源極導通,故萬(wàn)用表指針偏轉,偏轉的角度大,放電性越好。


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