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MOSFET知識-?關(guān)于MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇,圖文精解-KIA MOS管?

信息來(lái)源:本站 日期:2020-10-27 

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MOSFET知識-關(guān)于MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇,圖文精解-KIA MOS管


關(guān)于MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇

等效驅動(dòng)電路:


MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇


L為PCB走線(xiàn)電感,根據他人經(jīng)驗其值為直走線(xiàn)1nH/mm,考慮其他走線(xiàn)因素,取L=Length+10(nH),其中Length單位取mm。


Rg為柵極驅動(dòng)電阻,設驅動(dòng)信號為12V峰值的方波。


Cgs為MOSFET柵源極電容,不同的管子及不同的驅動(dòng)電壓時(shí)會(huì )不一樣,這兒取1nF。VL+VRg+VCgs=12V


根據走線(xiàn)長(cháng)度可以得到Rg最小取值范圍。 分別考慮20m長(cháng)m和70mm長(cháng)的走線(xiàn): L20=30nH,L70=80nH, 則Rg20=8.94Ω,Rg70=17.89Ω, 以下分別是電壓電流波形:


MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇

MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇


可以看到當Rg比較小時(shí)驅動(dòng)電壓上沖會(huì )比較高,震蕩比較多,L越大越明顯,此時(shí)會(huì )對MOSFET及其他器件性能產(chǎn)生影響。但是阻值過(guò)大時(shí)驅動(dòng)波形上升比較慢,當MOSFET有較大電流通過(guò)時(shí)會(huì )有不利影響。


此外也要看到,當L比較小時(shí),此時(shí)驅動(dòng)電流的峰值比較大,而一般IC的驅動(dòng)電流輸出能力都是有一定限制的,當實(shí)際驅動(dòng)電流達到IC輸出的最大值時(shí),此時(shí)IC輸出相當于一個(gè)恒流源,對Cgs線(xiàn)性充電,驅動(dòng)電壓波形的上升率會(huì )變慢。


電流曲線(xiàn)就可能如左圖所示(此時(shí)由于電流不變,電感不起作用)。這樣可能會(huì )對IC的可靠性產(chǎn)生影響,電壓波形上升段可能會(huì )產(chǎn)生一個(gè)小的臺階或毛刺。


MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇


一般IC的PWM OUT輸出如圖所示,內部集成了限流電阻Rsource和Rsink,通常Rsource>Rsink,具體數值大小同IC的峰值驅動(dòng)輸出能力有關(guān),可以近似認為R=Vcc/Ipeak。一般IC的驅動(dòng)輸出能力在0.5A左右,因此Rsource在20Ω左右。


由前面的電壓電流曲線(xiàn)可以看到一般的應用中IC的驅動(dòng)可以直接驅動(dòng)MOSFET,但是考慮到通常驅動(dòng)走線(xiàn)不是直線(xiàn),感量可能會(huì )更大,并且為了防止外部干擾,還是要使用Rg驅動(dòng)電阻進(jìn)行抑制。考慮到走線(xiàn)分布電容的影響,這個(gè)電阻要盡量靠近MOSFET的柵極。


MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇


可以看到L對上升時(shí)間的影響比較小,主要還是Rg影響比較大。上升時(shí)間可以用2*Rg*Cgs來(lái)近似估算,通常上升時(shí)間小于導通時(shí)間的二十分之一時(shí),MOSFET開(kāi)關(guān)導通時(shí)的損耗不致于會(huì )太大造成發(fā)熱問(wèn)題,因此當MOSFET的最小導通時(shí)間確定后Rg最大值也就確定了,一般Rg在取值范圍內越小越好,但是考慮EMI的話(huà)可以適當取大。


以上討論的是MOSFET ON狀態(tài)時(shí)電阻的選擇,在MOSFET OFF狀態(tài)時(shí)為了保證柵極電荷快速瀉放,此時(shí)阻值要盡量小,這也是Rsink


實(shí)際使用中還要考慮MOSFET柵漏極還有個(gè)電容Cgd的影響,MOSFET ON時(shí)Rg還要對Cgd充電,會(huì )改變電壓上升斜率,OFF時(shí)VCC會(huì )通過(guò)Cgd向Cgs充電,此時(shí)必須保證Cgs上的電荷快速放掉,否則會(huì )導致MOSFET的異常導通。-MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇


MOSFET驅動(dòng)電阻的選擇


MOS管柵極串聯(lián)電阻如何確定

從理論上說(shuō),MOS管的輸入電阻很大,所以這個(gè)電阻絕不是為了提升輸入電阻或者限流作用。在低頻條件下,這個(gè)電阻有點(diǎn)安慰性質(zhì),不接也罷。但在高頻時(shí),情況就變了,MOSFET的輸入阻抗將降低,而且在某個(gè)頻率范圍內將變成負阻,會(huì )發(fā)生振蕩。


為改變控制脈沖的前后沿陡度和防止震蕩,減小集電極的電壓尖峰,應在柵極串上合適的電阻Rg ,當 Rg 增大時(shí),導通時(shí)間延長(cháng),損耗發(fā)熱加劇;Rg減小時(shí),di/dt增高,可能產(chǎn)生誤導通,使器件損壞。


應根據管子的電流容量和電壓額定值以及開(kāi)關(guān)頻率來(lái)選取Rg的數值.通常在幾歐至幾十歐之間(在具體應用中,還應根據實(shí)際情況予以適當調整)。另外為防止門(mén)極開(kāi)路或門(mén)極損壞時(shí)主電路加電損壞器件,建議在柵源間加入一電阻Rge,阻值為10kΩ左右。




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