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【半導(dǎo)體光刻工藝】在晶圓上繪制電路-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2023-06-20 

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【半導(dǎo)體光刻工藝】在晶圓上繪制電路-KIA MOS管


光刻工藝

光刻步驟類似于圖案繪制的過程。而半導(dǎo)體的生產(chǎn)制造,可以理解為是重復(fù)的堆疊和切割。利用光刻工藝,在想要切割的位置繪制圖案。

半導(dǎo)體 光刻工藝

光刻工藝的第一步就是涂覆光刻膠(Photo Resist,PR),當(dāng)光穿過掩膜照射時(shí),在受光和未受光區(qū)域之間,光刻膠會(huì)出現(xiàn)性質(zhì)差異。


利用這種差異,在光刻膠的受光或未受光區(qū)域中,可根據(jù)情況保留和移除所需區(qū)域,這個(gè)過程就是顯影(Develop)。換言之,顯影的區(qū)域便是掩模版的圖案區(qū)域。將掩模版的圖案(Pattern)顯影在想要切割的物質(zhì)上的過程,被稱為成像(Patterning)。


光刻膠

光刻膠又稱光致抗蝕劑,是指通過紫外光、電子束、離子束、X射線等的照射或輻射,其溶解度發(fā)生變化的耐蝕劑刻薄膜材料。為了獲得更高質(zhì)量的微電路圖形,光刻膠膜必須薄且均勻,且對光要具有高度敏感性。

半導(dǎo)體 光刻工藝

光刻膠經(jīng)曝光后,其化學(xué)性質(zhì)會(huì)發(fā)生改變。更準(zhǔn)確地說,經(jīng)曝光后,光刻膠在顯影液中的溶解度發(fā)生了變化:曝光后溶解度上升的物質(zhì)稱作正性(Positive)光刻膠,反之則為負(fù)性(Negative)光刻膠。


半導(dǎo)體制造商一般會(huì)根據(jù)工藝的目的選擇合適的光刻膠。例如,負(fù)膠經(jīng)曝光而固化的部分,在顯影過程中,因吸收部分顯影液而容易膨脹、變形,不適合繪制精細(xì)圖形。因此,繪制精細(xì)圖形通常采用正膠。但負(fù)膠卻具有成本低以及在刻蝕(Etching)工藝中抗刻蝕能力更強(qiáng)的的優(yōu)點(diǎn)。


掩模版(光罩)

掩模版是用于LSI等集成電路制造工序的重要器件。在透明玻璃板表面的遮光膜上蝕刻加工了非常微細(xì)的電路圖案,成為對硅晶圓復(fù)刻電路時(shí)的母版。

半導(dǎo)體 光刻工藝


將想要繪制的圖案制成薄板(也被稱為掩膜(Mask)或光罩(Reticle)),使用薄板讓光被阻隔或者透射過去,照射在需要的位置,即可將掩模版的圖案轉(zhuǎn)印到晶圓上,從而顯影出圖案。

半導(dǎo)體 光刻工藝

半導(dǎo)體制造需要多個(gè)掩模版。使用掩模版曝光后,在隨后的刻蝕、沉積和氧化工藝中再經(jīng)多種處理,然后再重復(fù)上述過程,堆疊半導(dǎo)體的下一層。可見,所謂“設(shè)計(jì)”,其實(shí)就是為賦予芯片一定功能,不斷制作用于繪制半導(dǎo)體各層的掩模版的過程。


通過光線在晶圓上繪制電路的曝光

通過涂膠工序,形成光刻膠膜,使晶圓成為類似于相紙的狀態(tài)后,使用曝光設(shè)備(步進(jìn)式光刻機(jī),Steper)使光穿過包含電路圖形的掩模版,將電路印在晶圓上。這個(gè)過程叫做“曝光”(Steper Exposure)。半導(dǎo)體工藝中的曝光是指選擇性地照射光的工序。

半導(dǎo)體 光刻工藝

曝光與氧化工藝不同,無法同時(shí)處理數(shù)十個(gè)晶圓,即無法打造可以一次處理直徑為300mm的晶圓的均勻光源,光刻機(jī)每次只能曝光1~4個(gè)芯片。僅投入到曝光工藝的資金就是氧化工藝的12倍。


形成電路圖形的顯影工序

光刻工藝的最后一個(gè)階段是顯影(Develop)。光刻膠曝光后,曝光區(qū)光刻膠的化學(xué)性質(zhì)會(huì)發(fā)生改變,這些變質(zhì)的光刻膠要用顯影液溶解后去除,從而形成電路圖形,這一工藝被稱作顯影。


在正性光刻膠的情況下,留下未曝光的區(qū)域,而在負(fù)性光刻膠的情況下,僅使用曝光的區(qū)域。在進(jìn)入顯影工藝前,要進(jìn)行曝光后烘烤(Post Exposure Bake,PEB),以進(jìn)一步促進(jìn)曝光區(qū)光刻膠的性質(zhì)變化。

半導(dǎo)體 光刻工藝

顯影過程結(jié)束后,光刻工藝就完成了。在用各種測量設(shè)備和光學(xué)顯微鏡仔細(xì)檢查圖形是否繪制好之后,只有完成這些工序的晶圓才能進(jìn)入下一個(gè)工程階段。



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