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MOS管的轉(zhuǎn)移特性曲線、輸出特性曲線-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2023-05-06 

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MOS管的轉(zhuǎn)移特性曲線、輸出特性曲線-KIA MOS管


以某型號(hào)器件為例,通過(guò)分析其曲線,來(lái)分析MOS管的工作特性。

一、轉(zhuǎn)移特性曲線(VGS-ID曲線)

MOS管 特性曲線

說(shuō)明的是柵極電壓VGS對(duì)ID的控制作用。


從上圖曲線可得到:

1、測(cè)試條件:VDS=20V;

2、VGS的開(kāi)啟電壓VGS(th),約5V,且隨著溫度的升高而降低;

3、VGS需要達(dá)到10V以上,才能完全導(dǎo)通,達(dá)到其最大標(biāo)稱ID;

4、VGS越大,ID才能越大,溫度越高,ID越小;


二、輸出特性曲線(VDS-ID曲線)

MOS管 特性曲線


上圖可被分為四部分:

1、夾斷區(qū)(截止區(qū))

此區(qū)域內(nèi),VGS未達(dá)到VGS(th),MOS管不導(dǎo)通,即ID基本為零;


2、可變電阻區(qū)

此區(qū)域內(nèi),ID-VDS基本維持線性比例關(guān)系,斜率即為MOSFET的導(dǎo)通電子Rds(on)。


3、飽和區(qū)

此區(qū)域內(nèi),ID不再隨著VDS的增大而增大。說(shuō)明ID已經(jīng)飽和了。


4、擊穿區(qū)

此區(qū)域內(nèi),因VDS過(guò)大,MOSFET被擊穿損壞。


當(dāng)MOSFET工作在開(kāi)關(guān)狀態(tài)時(shí),隨著VGS的通/斷,MOSFET是在截止區(qū)和可變電阻區(qū)來(lái)回切換的,在切換過(guò)程中可能會(huì)經(jīng)過(guò)飽和區(qū)。


當(dāng)MOSFET工作于飽和區(qū)時(shí),可以用來(lái)通過(guò)控制VGS的電壓來(lái)控制電流ID,將MOSFET用于實(shí)現(xiàn)上電軟起動(dòng)電路。



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