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什么是cmos電平 ttl電平和cmos電平區別和比較解析 KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2017-08-31 

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CMOS電平

COMS集成電路是互補對稱(chēng)金屬氧化物半導體(Complementary symmetry metal oxide semiconductor)集成電路的英文縮寫(xiě),電路的許多基本邏輯單元都是用增強型PMOS晶體管和增強型NMOS管按照互補對稱(chēng)形式連接的,靜態(tài)功耗很小。COMS電路的供電電壓電壓波動(dòng)允許±10,當輸出電壓高于VDD-0.5VVDD范圍比較廣在+5--+15V均能正常工作,時(shí)為邏輯1,輸出電壓低于VSS+0.5V(VSS為數字地)為邏輯0,扇出數為10--20個(gè)COMS門(mén)電路.

輸出L:<0.1*Vcc;H:>0.9*Vcc

輸入L:<0.3*Vcc;H:>0.7*Vcc

由于CMOS電源采用12V,則輸入低于3.6V為低電平,噪聲容限為1.8V,高于3.5V為高電平,噪聲容限高為1.8V。比TTL有更高的噪聲容限。

輸出高電平和輸出低電平:Uoh≈Vcc,Uol≈GND,

輸入高電平和輸入低電平:Uih≥0.7Vcc,Uil≤0.2Vcc

由上面可知,在同樣5V電源的電壓情況下,CMOS電路可以直接驅動(dòng)TTL,而TTL電路不能直接驅動(dòng)CMOS電路,故TTL電路驅動(dòng)CMOS電路需上拉電阻。

3.3V CMOS可以 直接驅動(dòng)5V的TTL電路。

(當然上面是一般情況,具體還是要查看所用芯片的datasheet,只要在用的時(shí)候注意就行)

比較:A:TTL電路是電流控制器件、CMOS電路是電壓控制器件

B:TTL電路的速度快,傳輸延遲短(5-10ns)但是功耗大

CMOS電路的速度慢,傳輸延遲長(cháng)(25-50ns),但功耗低,CMOS電路本身的功耗與輸入信號的脈沖頻率有關(guān),頻率越高,芯片越熱,這是正常現象。

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二、COMS電路的鎖定效應

COMS電路由于輸入太大的電流,內部的電流急劇增大,除非切斷電源,電流一直在增大。這種效應就是鎖定效應。當產(chǎn)生鎖定效應時(shí),COMS的內部電流能達到40mA以上,很容易燒毀芯片。

防御措施:

1)在輸入端和輸出端加鉗位電路,使輸入和輸出不超過(guò)不超過(guò)規定電壓。

2)芯片的電源輸入端加去耦電路,防止VDD端出現瞬間的高壓。

3)在VDD和外電源之間加線(xiàn)流電阻,即使有大的電流也不讓它進(jìn)去。

4)當系統由幾個(gè)電源分別供電時(shí),開(kāi)關(guān)要按下列順序:開(kāi)啟時(shí),先開(kāi)啟COMS電路得電源,再開(kāi)啟輸入信號和負載的電源;關(guān)閉時(shí),先關(guān)閉輸入信號和負載的電源,再關(guān)閉COMS電路的電源。

三、CMOS電平接口

我們對它也不陌生,也是經(jīng)常和它打交道了,一些關(guān)于CMOS的半導體特性在這里就不必啰嗦了。許多人都知道的是,正常情況下CMOS的功耗和抗干擾能力遠優(yōu)于TTL。但是鮮為人知的是,在高轉換頻率時(shí),CMOS系列實(shí)際上卻比TTL消耗更多的功率。

由于CMOS的工作電壓目前已經(jīng)可以很小了,有的FPGA內核工作電壓甚至接近1.5V,這樣就使得電平之間的噪聲容限比TTL小了很多,因此更加加重了由于電壓波動(dòng)而引發(fā)的信號判斷錯誤。

眾所周知,CMOS電路的輸入阻抗是很高的,因此,它的耦合電容容量可以很小,而不需要使用大的電解電容器了。由于CMOS電路通常驅動(dòng)能力較弱,所以必須先進(jìn)行TTL轉換后再驅動(dòng)ECL電路。

此外,設計CMOS接口電路時(shí),要注意避免容性負載過(guò)重,否則的話(huà)會(huì )使得上升時(shí)間變慢,而且驅動(dòng)器件的功耗也將增加(因為容性負載并不耗費功率)。

四、COMS電路的使用注意事項

1)COMS電路時(shí)電壓控制器件,它的輸入總抗很大,對干擾信號的捕捉能力很強。所以,不用的管腳不要懸空,要接上拉電阻或者下拉電阻,給它一個(gè)恒定的電平。

2)輸入端接低內阻的信號源時(shí),要在輸入端和信號源之間要串聯(lián)限流電阻,使輸入的電流限制在1mA之內。

3)當接長(cháng)信號傳輸線(xiàn)時(shí),在COMS電路端接匹配電阻。

4)當輸入端接大電容時(shí),應該在輸入端和電容間接保護電阻。電阻值為R=V0/1mA.V0是外界電容上的電壓。

5)COMS的輸入電流超過(guò)1mA,就有可能燒壞COMS。

五、CMOS的趨勢

進(jìn)入2000年后,電子電路低電壓化的步伐加快了。這與電子設備的信號處置從模仿向數字轉移有親密的關(guān)系。像CG(ComputerGraphic,計算機圖形)那樣,進(jìn)一步以高速度、高密度(3D,MPEG2,5.lch環(huán)繞平面聲等)、而且用電池驅動(dòng)的筆記本電腦停止編輯、閱覽。像數碼照相機(百萬(wàn)像素&長(cháng)時(shí)間電池)那樣,請求更低的功率耗費。
從這種市場(chǎng)意向和半導體廠(chǎng)家的高集成度、高附加值兩個(gè)角度看,都請求器件的微細化、低電壓化。表13.4列出了包括EIA/JEDEC依然在審議中的電源電壓范圍的規范化意向。低電壓化業(yè)已進(jìn)入1.0V系電源。
表13.5列出其輸入電壓規格(接口規格)的意向,到3.3V系(或者3.0V系)電源電壓,都是VIL=0.8V、VIH=2.0V就是說(shuō)以維持TTL電平的“LVTTL”(LV:LowVoltage)作為輸入電壓規格規范,在TTL習氣運用的信息、通訊范疇運用著(zhù)。不過(guò)在電源電壓進(jìn)一步降低后,VIL,和VIH的規格就只能采用CMOS電平規范。    圖13.6形象地表現出電源電壓和高速化的關(guān)系。TTL運用在以5V工作為中心的高速應用范疇,3V系的應用被合適于Bi-CMOS技術(shù)的低電壓型(LVTTL)掩蓋。TTL/LVTTL的電路閾值設計大約是1.4V,輸入“L”/“H”的電壓規格是0.8V/2.0V。

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CMOS在原來(lái)寬的工作電壓范圍的根底上,產(chǎn)生了低電壓、高速產(chǎn)品,也包含了TTL的性能。CMOS的電路閾值設計為1/2VDD,輸入“L”/“H”的電壓規格是0.25~0.35VDD/0.65~0.75VDD。
CMOS器件的接口以CMOS電平為規范,不過(guò)也產(chǎn)生適用特定用處的接口規格。最大的意向是差動(dòng)傳送。這一點(diǎn)將在后面引見(jiàn)。


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