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運放的失調(diào)電流與失調(diào)電壓|輸入失調(diào)電壓電流計算-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2022-08-05 

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運放的失調(diào)電流與失調(diào)電壓|輸入失調(diào)電壓電流計算-KIA MOS管


運放的輸入失調(diào)電壓和輸入失調(diào)電流

輸入失調(diào)電壓(Vos)

如果運放兩個輸入端上的電壓均為 0V,則輸出端電壓也應(yīng)該等于 0V。但事實上,輸出端總有一些電壓,該電壓稱為失調(diào)電壓 VOS。


如果將輸出端的失調(diào)電壓除以電路的噪聲增益,得到結(jié)果稱為輸入失調(diào)電壓或輸入?yún)⒖际д{(diào)電壓。這個特性在數(shù)據(jù)表中通常以 VOS給出。VOS被等效成一個與運放反相輸入端串聯(lián)的電壓源。必須對放大器的兩個輸入端施加差分電壓,以產(chǎn)生 0V 輸出。


溫度漂移(Drift)

Vos隨著溫度的變化而改變,這種現(xiàn)象稱為漂移,漂移的大小隨時間而變化。漂移的溫度系數(shù)TCVos通常會在數(shù)據(jù)表中給出,但一些運放數(shù)據(jù)表僅提供可保證器件在工作溫度范圍內(nèi)安全工作的第二大或者最大的Vos。這種規(guī)范的可信度稍差,因為TCVos可能是不恒定的,或者是非單調(diào)變化的。


Vos漂移或者老化通常以mv/月或者mV/1000小時來定義。但這個非線性函數(shù)與器件已使用時間的平方根成正比。例如,老化速度1mV/1000小時可轉(zhuǎn)化為大約3mV/年,而不是9mV/年。老化速度并不總是在數(shù)據(jù)表中給出,即使是高精度運放。


輸入偏置電流(Ibs)

理想運放的輸入阻抗無窮大,因此不會有電流流入輸入端,但是,在輸入級中使用雙極結(jié)型晶體管(BJT)的真實運放需要一些工作電流,該電流稱為偏置電流(IB)。


通常有兩個偏置電流:IB+和IB-,它們分別流入兩個輸入端。IB值的范圍很大,特殊類型運放的偏置電流低至60fA(大約每3us通過一個電子),而一些高速運放的偏置電流可高達(dá)幾十mA。


輸入失調(diào)電流(Ios)

單片運放的制造工藝趨于使電壓反饋運放的兩個偏置電流相等,但不能保證兩個偏置電流相等。但不能保證兩個偏置電流相等。在電流反饋運放中,輸入端的不對稱特性意味著兩個偏置電流幾乎總是不相等的。這兩個偏置電流之差為輸入失調(diào)電流Ios,通常情況下Ios很小。


運放 輸入失調(diào)電流 輸入失調(diào)電壓


對于失調(diào)電壓,一般是設(shè)置一個很大的增益并且把輸入短接。這時候的輸出電壓除以增益就是失調(diào)電壓的大小。


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對于失調(diào)電流,則是用一個很大的電阻接在反饋回路上。S1閉合時,測同相端的偏流Ip,S2閉合的時候測反相端的偏流In。


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這里的“失調(diào)”電流測法實際上測得的是“偏置電流”而非“失調(diào)電流”,當(dāng)然,分別測出了+-端的“偏置電流”后,也可以得知“失調(diào)電流”----等于二者的差。


上面具體例子中的電阻值選取對于有些情況不太合適,一般運放的偏置電流只有若干nA數(shù)量級,如果采用10M電阻,那么由于偏置電流造成的輸出電壓只有若干mV,而且此時還包括了“失調(diào)電壓”的影響(偏大或偏小都有可能,具體取決于失調(diào)電壓的極性)。


所以,測量nA量級的偏置電流,電阻還得取大些,使Ibias*R達(dá)到v級,此時也不用扣除失調(diào)電壓的影響了(5mv的失調(diào)電壓對1v的輸出電壓來說,對測量結(jié)果的影響只有0.5%)。


運放的輸入失調(diào)電壓電流怎么計算

輸入失調(diào)電壓VIO

一個理想的運放,當(dāng)輸入電壓為零時,輸出電壓也應(yīng)為零(不加調(diào)零裝置)。但實際上它的差分輸入級很難做到完全對稱,通常在輸入電壓為零時,存在一定的輸出電壓,該電壓稱為失調(diào)電壓VIO。


在室溫(25℃)及標(biāo)準(zhǔn)電源電壓下,輸入電壓為零時,為了使運放的輸出電壓為零,在輸入端加的補償電壓即失調(diào)電壓VIO。實際上指輸入電壓Vi=0時,輸出電壓Vo折合到輸入端的電壓的負(fù)值,Vio被等效成一個與運放反相輸入端串聯(lián)的電壓源。


必須對放大器的兩個輸入端施加差分電壓,以產(chǎn)生0V輸出。即

Vio=-(Vo│v=0)/Avo


Vio的大小反應(yīng)了運放制造中電路的對稱程度和電位配合情況。Vio值愈大,說明電路的對稱程度愈差,一般約為±(1~10)mV。


Vio隨著溫度的變化而改變,這種現(xiàn)象稱為漂移,漂移的大小隨時間而變化。漂移的溫度系數(shù)TCVio通常會在數(shù)據(jù)表中給出,但一些運放數(shù)據(jù)表僅提供可保證器件在工作溫度范圍內(nèi)安全工作的第二大或者最大的Vio。這種規(guī)范的可信度稍差,因為TCVio可能是不恒定的,或者是非單調(diào)變化的。


Vio漂移或者老化通常以mV/月或者mV/1,000小時來定義。但這個非線性函數(shù)與器件已使用時間的平方根成正比。例如,老化速度1mV/1,000小時可轉(zhuǎn)化為大約3mV/年,而不是9mV/年。老化速度并不總是在數(shù)據(jù)表中給出,即便是高精度運放。


輸入失調(diào)電流Ιio

在BJT集成電路運放中,由于制造工藝趨于使電壓反饋運放的兩個偏置電流相等,但不能保證兩個偏置電流相等。在電流反饋運放中,輸入端的不對稱特性意味著兩個偏置電流幾乎總是不相等的。


這兩個偏置電流之差為輸入失調(diào)電流Ιio,輸入失調(diào)電流 offset current, 是指兩個差分輸入端偏置電流的誤差,即當(dāng)輸出電壓為零時流入放大器兩輸入端的靜態(tài)基極電流之差,即

Iio=│Ibp-Ibn│


由于信號源內(nèi)阻的存在,Iio會引起一輸入電壓,破壞放大器的平衡,使放大器輸出電壓不為零。所以,希望Iio愈小愈好,它反映了輸入級有效差分對管的不對稱程度,一般約為1 nA~0.1 mA.



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