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MOS管導通及損耗圖文詳解|必看!-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2021-05-28 

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MOS管導通及損耗圖文詳解|必看!-KIA MOS管


MOS管導通過程分析

MOS管和三極管的特性曲線分別如圖1和圖2所示,它們各自區(qū)間的命名有所不同,其中MOS管的飽和區(qū)也稱為恒流區(qū)、放大區(qū)。


其中一個主要的不同點在于MOS管有個可變電阻區(qū),而三極管則是飽和區(qū),沒有可變電阻區(qū)的說法。


從圖中也能明顯看出,MOS管在可變電阻區(qū)內(nèi),Vgs一定時,Id和Vds近似為線性關(guān)系,不同Vgs值對應(yīng)不同的曲線斜率,即漏極D和源極S之間的電阻值Rds受控于Vgs;而三極管在飽和區(qū)內(nèi),不同Ib值的曲線都重合在一起,即曲線斜率相同,阻值相同。


MOS管 導通 損耗


MOS管導通過程中的各電壓電流曲線如圖3所示,其中Vgs曲線有著名(臭名昭著)的米勒平臺,即Vgs在某段時間(t3-t2)內(nèi)保持不變。


MOS管 導通 損耗


我們知道MOS管是壓控器件,不同于三極管是流控器件,但是實際上MOS管在從關(guān)斷到導通的過程也是需要電流(電荷)的,原因是因為MOS管各極之間存在寄生電容Cgd,Cgs和Cds,如圖4所示。


MOS管導通條件是Vgs電壓至少達到閾值電壓Vgs(th),其通過柵極電荷對Cgs電容充電實現(xiàn),當MOS管完全導通后就不需要提供電流了,即壓控的意思。


這三個寄生電容參數(shù)值在MOS管的規(guī)格書中一般是以Ciss,Coss和Crss形式給出,其對應(yīng)關(guān)系為:Cgd=Crss;Cds=Coss-Crss;Cgs=Ciss-Crss。


MOS管 導通 損耗


在MOS管的規(guī)格書上一般還有如圖5所示的柵極充電曲線,其可以很好地解釋為何Vgs電壓會有米勒平臺。


Vgs一開始隨著柵極電荷的增加而增加,但是當Vgs增加到米勒平臺電壓大小Vp時,即使柵極電荷繼續(xù)增加,Vgs也保持不變,因為增加的柵極電荷被用來給Cgd電容進行充電。


因此,MOS管會有對應(yīng)的Qgs,Qgd和Qg電荷參數(shù),如圖6所示。


在MOS管截止時,漏極電壓對Cgd充電,Cgd的電壓極性是上正下負;


當MOS管進入米勒平臺后,大部分的柵極電荷用來對Cgd進行充電,但是極性與漏極充電相反,即下正上負,因此也可理解為對Cgd反向放電,最終使得Vgd電壓由負變正,結(jié)束米勒平臺進入可變電阻區(qū)。


米勒平臺時間內(nèi),Vds開始下降,米勒平臺的持續(xù)時間即為Vds電壓從最大值下降到最小值的時間。由此可見米勒平臺時間與電容Cgd大小成正比,在通信設(shè)備行業(yè)中-48V電源的緩啟動電路經(jīng)常在MOS管柵漏極間并聯(lián)一個較大的電容,以延長米勒平臺時間來達到電壓緩啟動的目的。


MOS管 導通 損耗


米勒平臺電壓的大小可以近似地通過以下公式進行估算,Id=gfs(Vp-Vgs(th)),通過規(guī)格書可以得到閾值電壓Vgs(th)和跨導gfs,根據(jù)電路參數(shù)可以得到漏極電流Id,因此,可以近似推算出米勒平臺電壓Vp。


但是需要注意的是跨導gfs并不是一個常數(shù),規(guī)格書中給出的數(shù)值都是基于一定的Vds和Id條件下得到的。此外,還有另外一種估算方法Id=K(Vp-Vgs(th))2,根據(jù)規(guī)格書中的參數(shù)計算出常數(shù)K,然后計算得到Vp。


了解了MOS管的米勒平臺后,我們可以分析一下圖3所示導通過程中MOS管電壓電流的變化曲線。


MOS管 導通 損耗


以常見的MOS管開關(guān)電路為例,在t0~t1時間段內(nèi),Vgs小于閾值電壓Vgs(th)時,MOS管處于截止區(qū)關(guān)斷,漏極電流Id=0,漏源極電壓差Vds為輸入電壓Vin。


在t1~t2時間段內(nèi),隨著Vgs從閾值電壓Vgs(th)逐漸增大至米勒平臺電壓Vp,電流Id從0開始逐漸增大至最大值,MOS管開始導通,并進入恒流區(qū)(飽和區(qū))。


此時Vds仍舊維持不變,但是實際電路中可能會由于各種雜散寄生電感等因素的影響(Ldi/dt產(chǎn)生壓降),也會產(chǎn)生一部分壓降損失,導致實際的Vds會略微下降。同三極管類似,MOS管在飽和區(qū)內(nèi)具有相似的放大特性,其公式為:Id=gfsVgs,gfs為MOS管的跨導。


在t2~ t3時間段內(nèi),當Id逐漸增大至最大值(由電路參數(shù)決定)時,MOS管開始進入米勒平臺,由于電流Id已經(jīng)達到最大值保持不變,所以Vgs=Id/gfs亦保持不變,即從公式角度也可以解釋米勒平臺。


在t2~t3時間段內(nèi),Vds開始以一定斜率下降。但是實際下降的斜率在整個時間段內(nèi)并非一直保持不變。


因為MOS管的Cgd電容在這個過程中是變化的,一開始Cgd較小,之后變大,所以實際的VDS曲線斜率會稍有變化,即一開始Cgd電容小,電壓下降較快,之后Cgd電容較大,電壓下降較慢,Cgd電容值的變化曲線如圖7所示。


MOS管 導通 損耗


在t3之后,MOS管進入可變電阻區(qū),米勒平臺結(jié)束,Vgs電壓在柵極電荷的驅(qū)動下繼續(xù)升高至最大值,Vds則電壓下降至最低值Rds(on)Id。圖3 MOS管導通曲線的簡化版如圖8所示,分析問題時圖8已經(jīng)足夠使用。


MOS管關(guān)斷時的分析過程相反,其變化曲線如圖9所示。


MOS管 導通 損耗


t1和t2的時間可以根據(jù)RC充放電原理進行近似計算,t1=RgCissln(Vgs/(Vgs-Vgs(th))),t2= RgCiss*ln(Vgs/(Vgs-Vp)),其中Vgs為柵極驅(qū)動電壓大小,Rg為柵極驅(qū)動電阻。t2值近似于規(guī)格書中的參數(shù)延時導通時間td(on)。


米勒平臺的持續(xù)時間tp可以通過以下公式近似計算:由于該時間段內(nèi)Vp保持不變,因此柵極驅(qū)動電流大小Ig=(Vgs-Vp)/Rg,tp=Qgd/Ig。tp=t3-t2,近似于規(guī)格書中的參數(shù)上升時間tr。


MOS管損耗分析

MOS管損耗主要有開關(guān)損耗(開通損耗和關(guān)斷損耗,關(guān)注參數(shù)Cgd(Crss))、柵極驅(qū)動損耗(關(guān)注參數(shù)Qg)和導通損耗(關(guān)注參數(shù)Rds(on))等。


以如圖10所示的同步BUCK拓撲為例進行說明,由于高側(cè)的開關(guān)管Q1和低側(cè)的同步管Q2組成一個半橋結(jié)構(gòu),為了防止兩個MOS管同時導通而使輸入回路短路,因此兩個MOS管的驅(qū)動信號會存在一個死區(qū)時間,即兩個MOS管都關(guān)斷。


在死區(qū)時間內(nèi),由于電感的電流不能突變,因此同步管Q2的寄生體二極管將率先導通進行續(xù)流。


正是由于體二極管導通后,同步管Q2才被驅(qū)動導通,在忽略二極管壓降的情況下,同步管Q2導通時兩端電壓為0,可以看作是0電壓導通;同步管Q2導通后,其兩端電壓為0直至關(guān)斷,因此也是0電壓關(guān)斷。


因此,同步管Q2基本沒有開關(guān)損耗,這意味著對于同步管的選取,功耗主要取決于與導通電阻RDS(on)相關(guān)的導通損耗,而開關(guān)損耗可以忽略不計,因此不必考慮柵極電荷Qg。而高側(cè)的開關(guān)管Q1由于開通和關(guān)閉時都不是0電壓,因此要基于導通損耗和開關(guān)損耗綜合來考慮。


MOS管 導通 損耗


所謂開關(guān)損耗是指MOS管在開通和關(guān)斷過程中,電壓和電流不為0,存在功率損耗。


由前述MOS管導通過程可知,開關(guān)損耗主要集中在t1~t3時間段內(nèi)。而米勒平臺時間和MOS管寄生電容Crss成正比,其在MOS管的開關(guān)損耗中所占比例最大,因此米勒電容Crss及所對應(yīng)的Qgd在MOS管的開關(guān)損耗中起主導作用。


因此對于MOS管的選型,不僅需要考慮柵極電荷Qg和柵極電阻Rg,也需要同時考慮Crss(Cgd)的大小,其同時也會在規(guī)格書的上升時間tr和下降時間tf參數(shù)上有間接反映,MOS管的關(guān)鍵參數(shù)如圖11所示。


MOS管 導通 損耗


MOS管的各種損耗可以通過以下公式近似估算:

導通損耗:

Q1管:P(HO) = D × (IO 2 × RDS(ON) × 1.3);

Q2管:P(LO) = (1 - D) × (IO 2 × RDS(ON) × 1.3);

系數(shù)1.3主要是考慮MOS管的導通電阻會隨著溫度的升高而增加。


柵極驅(qū)動損耗:

PGC = n ×VCC × Qg × fSW;

n表示MOS管的個數(shù)(MOS管選型相同時),fSW表示開關(guān)頻率;柵極驅(qū)動損耗主要是發(fā)生在電源控制芯片上,而非MOS管上,但是其大小與MOS管的參數(shù)有關(guān)。


開關(guān)損耗:

PSW = 0.5× Vin × Io × (tr + tf) × fSW;


系數(shù)0.5是因為將MOS管導通曲線看成是近似線性,折算成面積功率,系數(shù)就是0.5;Vin是輸入電壓,Io是輸出電流;


tr和tf是MOS管的上升時間和下降時間,分別指的是漏源電壓從90%下降到10%和漏源電壓從10%上升到90%的時間,可以近似看作米勒平臺的持續(xù)時間,即圖3中的(t3-t2)。


另外,規(guī)格書中的td(on)和td(off)可以近似看作是Vgs電壓從0開始上升到米勒平臺電壓的時間,即圖3中的t2。



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