三相全橋MOS管驅動(dòng)電路調試記錄-KIA MOS管
信息來(lái)源:本站 日期:2021-04-15
未接入全橋時(shí),電流轉電壓測量波形包含噪聲,周期約為17us左右,幅值為120mV左右,振蕩周期約為1.3us左右,如下圖所示。
經(jīng)過(guò)運放放大10倍后的波形中噪聲減弱,猜測是因為運放內部的頻帶限制使高頻噪聲衰減,同時(shí)猜測該高頻噪聲來(lái)自于開(kāi)關(guān)電源。
接入MOS管并且加入24V電壓后,IR2136的輸出驅動(dòng)電壓如圖所示:
測試程序:A相的上下MOS管以10ms導通時(shí)間交替導通;B相與C相都鎖定不導通。
低端MOS管如圖黃色通道1所示,導通完全正常;可是高端MOS管在導通接近2ms后就直接關(guān)閉,目前原因尚不清楚。
與上圖對應的A相橋臂輸出波形如圖所示:
可見(jiàn)高端MOS管的導通與上圖的驅動(dòng)波形相對應。
后續任務(wù):
閱讀IR2136芯片數據手冊,弄清自舉驅動(dòng)芯片的具體工作原理,并弄清楚導通時(shí)間的受影響因素。
增加測試:減小交替導通時(shí)間為2ms左右,觀(guān)察MOS管橋臂的導通情況。
可能是因為自舉電容充電時(shí)增加了限流電阻
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