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詳解MOS管柵極驅動(dòng)電阻如何優(yōu)化設計,一文看懂-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2020-10-21 

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詳解MOS管柵極驅動(dòng)電阻如何優(yōu)化設計,一文看懂-KIA MOS管


MOS管柵極驅動(dòng)電阻如何優(yōu)化設計

MOS管的驅動(dòng)對其工作效果起著(zhù)決定性的作用。設計師既要考慮減少開(kāi)關(guān)損耗,又要求驅動(dòng)波形較好即振蕩小、過(guò)沖小、EMI小。這兩方面往往是互相矛盾的,需要尋求一個(gè)平衡點(diǎn),即驅動(dòng)電路的優(yōu)化設計。


MOS管柵極驅動(dòng)電阻:驅動(dòng)電路的優(yōu)化設計包含兩部分內容:一是最優(yōu)的驅動(dòng)電流、電壓的波形;二是最優(yōu)的驅動(dòng)電壓、電流的大小。在進(jìn)行驅動(dòng)電路優(yōu)化設計之前,必須先清楚MOS管的模型、MOS管的開(kāi)關(guān)過(guò)程、MOS管的柵極電荷以及MOS管的輸入輸出電容、跨接電容、等效電容等參數對驅動(dòng)的影響。


MOS管的模型

MOS管的等效電路模型及寄生參數如圖1所示。圖1中各部分的物理意義為:


(1)LG和LG代表封裝端到實(shí)際的柵極線(xiàn)路的電感和電阻。


(2)C1代表從柵極到源端N+間的電容,它的值是由結構所固定的。


(3)C2+C4代表從柵極到源極P區間的電容。C2是電介質(zhì)電容,共值是固定的。而C4是由源極到漏極的耗盡區的大小決定,并隨柵極電壓的大小而改變。當柵極電壓從0升到開(kāi)啟電壓UGS(th)時(shí),C4使整個(gè)柵源電容增加10%~15%。


(4)C3+C5是由一個(gè)固定大小的電介質(zhì)電容和一個(gè)可變電容構成,當漏極電壓改變極性時(shí),其可變電容值變得相當大。


(5)C6是隨漏極電壓變換的漏源電容。


MOS管柵極驅動(dòng)電阻


MOS管輸入電容(Ciss)、跨接電容(Crss)、輸出電容(Coss)和柵源電容、柵漏電容、漏源電容間的關(guān)系如下:


MOS管柵極驅動(dòng)電阻


MOS管的開(kāi)通過(guò)程

開(kāi)關(guān)管的開(kāi)關(guān)模式電路如圖2所示,二極管可是外接的或MOS管固有的。開(kāi)關(guān)管在開(kāi)通時(shí)的二極管電壓、電流波形如圖3所示。


在圖3的階段1開(kāi)關(guān)管關(guān)斷,開(kāi)關(guān)電流為零,此時(shí)二極管電流和電感電流相等;在階段2開(kāi)關(guān)導通,開(kāi)關(guān)電流上升,同時(shí)二極管電流下降。開(kāi)關(guān)電流上升的斜率和二極管電流下降的斜率的絕對值相同,符號相反;在階段3開(kāi)關(guān)電流繼續上升,二極管電流繼續下降,并且二極管電流符號改變,由正轉到負;


在階段4,二極管從負的反向最大電流IRRM開(kāi)始減小,它們斜率的絕對值相等;在階段5開(kāi)關(guān)管完全開(kāi)通,二極管的反向恢復完成,開(kāi)關(guān)管電流等于電感電流。


MOS管柵極驅動(dòng)電阻


圖4是存儲電荷高或低的兩種二極管電流、電壓波形。從圖中可以看出存儲電荷少時(shí),反向電壓的斜率大,并且會(huì )產(chǎn)生有害的振動(dòng)。而前置電流低則存儲電荷少,即在空載或輕載時(shí)是最壞條件。所以進(jìn)行優(yōu)化驅動(dòng)電路設計時(shí)應著(zhù)重考慮前置電流低的情況,即空載或輕載的情況,應使這時(shí)二極管產(chǎn)生的振動(dòng)在可接受范圍內。


MOS管柵極驅動(dòng)電阻


柵極電荷QG和驅動(dòng)效果的關(guān)系

柵極電荷QG是使柵極電壓從0升到10V所需的柵極電荷,它可以表示為驅動(dòng)電流值與開(kāi)通時(shí)間之積或柵極電容值與柵極電壓之積。現在大部分MOS管的柵極電荷QG值從幾十納庫侖到一、兩百納庫侖。


柵極電荷QG包含了兩個(gè)部分:柵極到源極電荷QGS;柵極到漏極電荷QGD—即“Miller”電荷。QGS是使柵極電壓從0升到門(mén)限值(約3V)所需電荷;QGD是漏極電壓下降時(shí)克服“Miller”效應所需電荷,這存在于UGS曲線(xiàn)比較平坦的第二段(如圖5所示),此時(shí)柵極電壓不變、柵極電荷積聚而漏極電壓急聚下降,也就是在這時(shí)候需要驅動(dòng)尖峰電流限制,這由芯片內部完成或外接電阻完成。


實(shí)際的QG還可以略大,以減小等效RON,但是太大也無(wú)益,所以10V到12V的驅動(dòng)電壓是比較合理的。這還包含一個(gè)重要的事實(shí):需要一個(gè)高的尖峰電流以減小MOS管損耗和轉換時(shí)間。


MOS管柵極驅動(dòng)電阻


優(yōu)化柵極驅動(dòng)設計

MOS管柵極驅動(dòng)電阻:在大多數的開(kāi)關(guān)功率應用電路中,當柵極被驅動(dòng),開(kāi)關(guān)導通時(shí)漏極電流上升的速度是漏極電壓下降速度的幾倍,這將造成功率損耗增加。為了解決問(wèn)題可以增加柵極驅動(dòng)電流,但增加柵極驅動(dòng)上升斜率又將帶來(lái)過(guò)沖、振蕩、EMI等問(wèn)題。優(yōu)化柵極驅動(dòng)設計,正是在互相矛盾的要求中尋求一個(gè)平衡點(diǎn),而這個(gè)平衡點(diǎn)就是開(kāi)關(guān)導通時(shí)漏極電流上升的速度和漏極電壓下降速度相等這樣一種波形,理想的驅動(dòng)波形如圖6所示。


圖6的UGS波形包括了這樣幾部分:

UGS第一段是快速上升到門(mén)限電壓;UGS第二段是比較緩的上升速度以減慢漏極電流的上升速度,但此時(shí)的UGS也必須滿(mǎn)足所需的漏極電流值;UGS第四段快速上升使漏極電壓快速下降;UGS第五段是充電到最后的值。


當然,要得到完全一樣的驅動(dòng)波形是很困難的,但是可以得到一個(gè)大概的驅動(dòng)電流波形,其上升時(shí)間等于理想的漏極電壓下降時(shí)間或漏極電流上升的時(shí)間,并且具有足夠的尖峰值來(lái)充電開(kāi)關(guān)期間的較大等效電容。該柵極尖峰電流IP的計算是:電荷必須完全滿(mǎn)足開(kāi)關(guān)時(shí)期的寄生電容所需。


MOS管柵極驅動(dòng)電阻


結論

本文詳細介紹了MOS管的電路模型、開(kāi)關(guān)過(guò)程、輸入輸出電容、等效電容、電荷存儲等對MOS管驅動(dòng)波形的影響,及根據這些參數對驅動(dòng)波形的影響進(jìn)行的驅動(dòng)波形的優(yōu)化設計實(shí)例,取得了較好的實(shí)際效果。


影響MOSFET開(kāi)關(guān)速度除了其本身固有Tr,Tf外,還有一個(gè)重要的參數:Qg (柵極總靜電荷容量).該參數與柵極驅動(dòng)電路的輸出內阻共同構成了一個(gè)時(shí)間參數,影響著(zhù)MOSFET的性能。



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