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MOS管知識-MOS管的導通過(guò)程和損耗分析詳解-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2020-10-16 

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MOS管知識-MOS管的導通過(guò)程和損耗分析詳解-KIA MOS管


1.MOS管的導通過(guò)程和損耗分析: MOS管導通過(guò)程

MOS管和三極管的特性曲線(xiàn)分別如圖1和圖2所示,它們各自區間的命名有所不同,其中MOS管的飽和區也稱(chēng)為恒流區、放大區。其中一個(gè)主要的不同點(diǎn)在于MOS管有個(gè)可變電阻區,而三極管則是飽和區,沒(méi)有可變電阻區的說(shuō)法。


從圖中也能明顯看出,MOS管在可變電阻區內,Vgs一定時(shí),Id和Vds近似為線(xiàn)性關(guān)系,不同Vgs值對應不同的曲線(xiàn)斜率,即漏極D和源極S之間的電阻值Rds受控于Vgs;而三極管在飽和區內,不同Ib值的曲線(xiàn)都重合在一起,即曲線(xiàn)斜率相同,阻值相同。


MOS管的導通過(guò)程和損耗


MOS管的導通過(guò)程和損耗


MOS管導通過(guò)程中的各電壓電流曲線(xiàn)如圖3所示,其中Vgs曲線(xiàn)有著(zhù)名(臭名昭著(zhù))的米勒平臺,即Vgs在某段時(shí)間(t3-t2)內保持不變。


MOS管的導通過(guò)程和損耗


我們知道MOS管是壓控器件,不同于三極管是流控器件,但是實(shí)際上MOS管在從關(guān)斷到導通的過(guò)程也是需要電流(電荷)的,原因是因為MOS管各極之間存在寄生電容Cgd,Cgs和Cds,如圖4所示


MOS管導通條件是Vgs電壓至少達到閾值電壓Vgs(th),其通過(guò)柵極電荷對Cgs電容充電實(shí)現,當MOS管完全導通后就不需要提供電流了,即壓控的意思。


這三個(gè)寄生電容參數值在MOS管的規格書(shū)中一般是以Ciss,Coss和Crss形式給出,其對應關(guān)系為:Cgd=Crss;Cds=Coss-Crss;Cgs=Ciss-Crss。


MOS管的導通過(guò)程和損耗


2.MOS管的導通過(guò)程和損耗分析: MOS管損耗

MOS管損耗主要有開(kāi)關(guān)損耗(開(kāi)通損耗和關(guān)斷損耗,關(guān)注參數Cgd(Crss))、柵極驅動(dòng)損耗(關(guān)注參數Qg)和導通損耗(關(guān)注參數Rds(on))等。以如圖10所示的同步BUCK拓撲為例進(jìn)行說(shuō)明,由于高側的開(kāi)關(guān)管Q1和低側的同步管Q2組成一個(gè)半橋結構,為了防止兩個(gè)MOS管同時(shí)導通而使輸入回路短路,因此兩個(gè)MOS管的驅動(dòng)信號會(huì )存在一個(gè)死區時(shí)間,即兩個(gè)MOS管都關(guān)斷。


在死區時(shí)間內,由于電感的電流不能突變,因此同步管Q2的寄生體二極管將率先導通進(jìn)行續流。正是由于體二極管導通后,同步管Q2才被驅動(dòng)導通,在忽略二極管壓降的情況下,同步管Q2導通時(shí)兩端電壓為0,可以看作是0電壓導通;同步管Q2導通后,其兩端電壓為0直至關(guān)斷,因此也是0電壓關(guān)斷。


因此,同步管Q2基本沒(méi)有開(kāi)關(guān)損耗,這意味著(zhù)對于同步管的選取,功耗主要取決于與導通電阻RDS(on)相關(guān)的導通損耗,而開(kāi)關(guān)損耗可以忽略不計,因此不必考慮柵極電荷Qg。而高側的開(kāi)關(guān)管Q1由于開(kāi)通和關(guān)閉時(shí)都不是0電壓,因此要基于導通損耗和開(kāi)關(guān)損耗綜合來(lái)考慮。


MOS管的導通過(guò)程和損耗


所謂開(kāi)關(guān)損耗是指MOS管在開(kāi)通和關(guān)斷過(guò)程中,電壓和電流不為0,存在功率損耗。由前述MOS管導通過(guò)程可知,開(kāi)關(guān)損耗主要集中在t1~t3時(shí)間段內。而米勒平臺時(shí)間和MOS管寄生電容Crss成正比,其在MOS管的開(kāi)關(guān)損耗中所占比例最大,因此米勒電容Crss及所對應的Qgd在MOS管的開(kāi)關(guān)損耗中起主導作用。


因此對于MOS管的選型,不僅需要考慮柵極電荷Qg和柵極電阻Rg,也需要同時(shí)考慮Crss(Cgd)的大小,其同時(shí)也會(huì )在規格書(shū)的上升時(shí)間tr和下降時(shí)間tf參數上有間接反映,MOS管的關(guān)鍵參數如圖11所示。


MOS管的導通過(guò)程和損耗


MOS管的各種損耗可以通過(guò)以下公式近似估算:


MOS管的導通過(guò)程和損耗


系數0.5是因為將MOS管導通曲線(xiàn)看成是近似線(xiàn)性,折算成面積功率,系數就是0.5;Vin是輸入電壓,Io是輸出電流;tr和tf是MOS管的上升時(shí)間和下降時(shí)間,分別指的是漏源電壓從90%下降到10%和漏源電壓從10%上升到90%的時(shí)間,可以近似看作米勒平臺的持續時(shí)間,即圖3中的(t3-t2)。另外,規格書(shū)中的td(on)和td(off)可以近似看作是Vgs電壓從0開(kāi)始上升到米勒平臺電壓的時(shí)間,即圖3中的t2。



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