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MOSFET知識-詳解MOSFET柵極前100Ω電阻有什么用-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2020-09-09 

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MOSFET知識-詳解MOSFET柵極前100Ω電阻有什么用

年輕的應用工程師 Neubean 想通過(guò)實(shí)驗證明,為了獲得穩定性,是不是真的必須把一個(gè) 100 Ω 的電阻放在 MOSFET 柵極前。


MOSFET,金屬-氧化物半導體場(chǎng)效應晶體管,簡(jiǎn)稱(chēng)金氧半場(chǎng)效晶體管(是一種可以廣泛使用在模擬電路與數字電路的場(chǎng)效晶體管。MOSFET依照其“通道”(工作載流子)的極性不同,可分為“N型”與“P型” 的兩種類(lèi)型,通常又稱(chēng)為NMOSFET與PMOSFET,其他簡(jiǎn)稱(chēng)上包括NMOS、PMOS等。


高端電流檢測簡(jiǎn)介

圖1中的電路所示為一個(gè)典型的高端電流檢測示例。

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負反饋試圖在增益電阻RGAIN上強制施加電壓VSENSE。通過(guò)RGAIN的電流流過(guò)P溝道MOSFET (PMOS),進(jìn)入電阻ROUT,該電阻形成一個(gè)以地為基準的輸出電壓。總增益為:

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電阻ROUT上的可選電容 COUT 的作用是對輸出電壓濾波。即使 PMOS 的漏極電流快速跟隨檢測到的電流,輸出電壓也會(huì )展現出單極點(diǎn)指數軌跡。


原理圖中的電阻 RGATE 將放大器與PMOS柵極隔開(kāi)。其值是多少?經(jīng)驗豐富的 Gureux 可能會(huì )說(shuō):“當然是100 Ω!”


嘗試多個(gè)阻值

如果柵極和源極之間有足夠的電容,或者柵極電阻足夠大,則應該可以導致穩定性問(wèn)題。一旦確定RGATE和CGATE相互會(huì )產(chǎn)生不利影響,則可以揭開(kāi)100 Ω或者任何柵極電阻值成為合理答案的原因。


圖2所示為用于凸顯電路行為的LTspice仿真示例。通過(guò)仿真來(lái)展現穩定性問(wèn)題,他認為,穩定性問(wèn)題會(huì )隨著(zhù)RGATE的增大而出現。畢竟,來(lái)自RGATE和CGATE的極點(diǎn)應該會(huì )蠶食與開(kāi)環(huán)關(guān)聯(lián)的相位裕量。然而,令人驚奇的是,在時(shí)域響應中,所有RGATE值都未出現任何問(wèn)題。

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電路并不簡(jiǎn)單

在研究頻率響應時(shí),意識到,需要明確什么是開(kāi)環(huán)響應。如果與單位負反饋結合,構成環(huán)路的正向路徑會(huì )從差值開(kāi)始,結束于結果負輸入端。我們模擬了VS/(VP – VS)或VS/VE,并將結果繪制成圖。圖3所示為該開(kāi)環(huán)響應的頻域圖。在圖3的波特圖中,直流增益很小,并且交越時(shí)未發(fā)現相位裕量問(wèn)題。事實(shí)上,從整體上看,這幅圖顯示非常怪異,因為交越頻率小于0.001 Hz。

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將電路分解成控制系統的結果如圖4所示。就像幾乎所有電壓反饋運算放大器一樣,LTC2063具有高直流增益和單極點(diǎn)響應。該運算放大器放大誤差信號,驅動(dòng)PMOS柵極,使信號通過(guò)RGATE– CGATE濾波器。CGATE和PMOS源一起連接至運算放大器的–IN輸入端。RGAIN從該節點(diǎn)連接至低阻抗源。即使在圖4中,可能看起來(lái)RGATE– CGATE濾波器應該會(huì )導致穩定性問(wèn)題,尤其是在RGATE比RGATE大得多的情況下。畢竟,會(huì )直接影響系統RGATE電流的CGATE電壓滯后于運算放大器輸出變化。

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對于為什么RGATE和CGATE沒(méi)有導致不穩定,我們提供了一種解釋?zhuān)骸皷艠O源為固定電壓,所以,RGATE – CGATE電路在這里是無(wú)關(guān)緊要的。你只需要按以下方式調整柵極和源即可。這是一個(gè)源極跟隨器。”


經(jīng)驗更豐富的同事說(shuō):“實(shí)際上,不是這樣的。只有當PMOS作為電路里的一個(gè)增益模塊正常工作時(shí),情況才是這樣的。”


受此啟發(fā),思考數學(xué)問(wèn)題——要是能直接模擬PMOS源對PMOS柵極的響應,結果會(huì )怎樣?換言之,V(VS)/V(VG)是什么?等式:

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其中,

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運算放大器增益為A,運算放大器極點(diǎn)為ωA。

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什么是gm?對于一個(gè)MOSFET,看著(zhù)圖1中的電路,當通過(guò)RSENSE的電流為零時(shí),通過(guò)PMOS的電流應該為零。當電流為零時(shí),gm為零,因為PMOS實(shí)際上是關(guān)閉的,未被使用、無(wú)偏置且無(wú)增益。當gm = 0時(shí),VS/VE為0,頻率為0 Hz,VS/VG為0,頻率為0 Hz,所以,根本沒(méi)有增益,圖3中的曲線(xiàn)圖可能是有效的。


試圖用LTC2063發(fā)現不穩定問(wèn)題

帶來(lái)這點(diǎn)啟示,Neubean很快就用非零的ISENSE嘗試進(jìn)行了一些仿真。


圖5為從VE到VS的響應增益/相位圖,該曲線(xiàn)跨越0dB以上到0dB以下,看起來(lái)要正常得多。圖5應該顯示大約2 kHz時(shí),100 Ω下有大量的PM,100 kΩ下PM較少,1 MΩ下甚至更少,但不會(huì )不穩定。

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Neubean來(lái)到實(shí)驗室,用高端檢測電路LTC2063得到一個(gè)檢測電流。他插入一個(gè)高RGATE值,先是100 kΩ,然后是1 MΩ,希望能看到不穩定的行為,或者至少出現某類(lèi)振鈴。不幸的是,他都沒(méi)有看到。他嘗試加大MOSFET里的漏極電流,先增加ISENSE,然后使用較小的RGAIN電阻值。結果仍然沒(méi)能使電路出現不穩定問(wèn)題。


他又回到了仿真,嘗試用非零ISENSE測量相位裕量。即使在仿真條件下也很難,甚至不可能發(fā)現不穩定問(wèn)題或者低相位裕度問(wèn)題。


Neubean找到Gureux,問(wèn)他為什么沒(méi)能使電路變得不穩定。Gureux建議他研究一下具體的數字。Neubean已經(jīng)對Gureux高深莫測的話(huà)習以為常,所以,他研究了RGATE和柵極總電容形成的實(shí)際極點(diǎn)。在100 Ω和250 pF下,極點(diǎn)為6.4 MHz;在100 kΩ下,極點(diǎn)為6.4 kHz;在1 MΩ下,極點(diǎn)為640 Hz。LTC2063增益帶寬積(GBP)為20 kHz。當LTC2063具有增益時(shí),閉環(huán)交越頻率可能輕松下滑至RGATE– CGATE極點(diǎn)的任何作用以下。


可能出現不穩定問(wèn)題

意識到運算放大器動(dòng)態(tài)范圍需要延伸至RGATE– CGATE極點(diǎn)的范圍以外,Neubean選擇了一個(gè)更高增益帶寬積的運放。LTC6255 5 V運算放大器可以直接加入電路,增益帶寬積也比較高,為6.5 MHz。


Neubean急切地用電流、LTC6255、100 kΩ柵極電阻和300 mA檢測電流進(jìn)行了仿真。


然后,Neubean在仿真里添加了RGATE。當RGATE足夠大時(shí),一個(gè)額外的極點(diǎn)可能會(huì )使電路變得不穩定。


圖6和圖7顯示的是在高RGATE值條件下的仿真結果。當檢測電流保持300 mA不變時(shí),仿真會(huì )出現不穩定情況。

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實(shí)驗結果

為了解電流是否會(huì )在檢測非零電流時(shí)出現異常行為,Neubean用不同步進(jìn)的負載電流和三個(gè)不同的RGATE值對LTC6255進(jìn)行了測試。在瞬時(shí)開(kāi)關(guān)切入更多并行負載電阻的情況下,ISENSE從60 mA的基數過(guò)度到較高值220 mA。這里沒(méi)有零ISENSE測量值,因為我們已經(jīng)證明,那種情況下的MOSFET增益太低。


實(shí)際上,圖8最終表明,使用100 kΩ和1 MΩ電阻時(shí),穩定性確實(shí)會(huì )受到影響。由于輸出電壓會(huì )受到嚴格濾波,所以,柵極電壓就變成了振鈴檢測器。振鈴表示相位裕量糟糕或為負值,振鈴頻率顯示交越頻率。

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頭腦風(fēng)暴時(shí)間

Neubean意識到,雖然看到過(guò)許多高端集成電流檢測電路,但不幸的是,工程師根本無(wú)力決定柵極電阻,因為這些都是集成在器件當中的。具體的例子有AD8212、LTC6101、LTC6102和LTC6104高電壓、高端電流檢測器件。事實(shí)上,AD8212采用的是PNP晶體管而非PMOS FET。他告訴Gureux說(shuō):“真的沒(méi)關(guān)系,因為現代器件已經(jīng)解決了這個(gè)問(wèn)題。”


好像早等著(zhù)這一刻,教授幾乎打斷了Neubean的話(huà),說(shuō)道:“我們假設,你要把極低電源電流與零漂移輸入失調結合起來(lái),比如安裝在偏遠地點(diǎn)的電池供電儀器。你可能會(huì )使用LTC2063或LTC2066,將其作為主放大器。或者你要通過(guò)470 Ω分流電阻測到低等級電流,并盡量準確、盡量減少噪聲;那種情況下,你可能需要使用ADA4528,該器件支持軌到軌輸入。在這些情況下,你需要與MOSFET驅動(dòng)電路打交道。”


顯然,只要柵極電阻過(guò)大,使高端電流檢測電路變得不穩定是有可能的。Neubean向樂(lè )于助人的老師Gureux談起了自己的發(fā)現。Gureux表示,事實(shí)上,RGATE確實(shí)有可能使電路變得不穩定,但開(kāi)始時(shí)沒(méi)能發(fā)現這種行為是因為問(wèn)題的提法不正確。需要有增益,在當前電路中,被測信號需要是非零。


Gureux回答說(shuō):“肯定,當極點(diǎn)侵蝕交越處的相位裕量時(shí),就會(huì )出現振鈴。但是,你增加1 MΩ柵極電阻的行為是非常荒謬的,甚至100 kΩ也是瘋狂的。記住,一種良好的做法是限制運算放大器的輸出電流,防止其將柵極電容從一個(gè)供電軌轉向另一個(gè)供電軌。”


MOSFET應用優(yōu)勢

1、場(chǎng)效應晶體管是電壓控制元件,而雙極結型晶體管是電流控制元件。在只允許從取較少電流的情況下,應選用場(chǎng)效應管;而在信號電壓較低,又允許從信號源取較多電流的條件下,應選用雙極晶體管。


2、有些場(chǎng)效應管的源極和漏極可以互換使用,柵壓也可正可負,靈活性比雙極晶體管好。


3、場(chǎng)效應管是利用多數載流子導電,所以稱(chēng)之為單極型器件,而雙極結型晶體管是即有多數載流子,也利用少數載流子導電。因此被稱(chēng)之為雙極型器件。


4、場(chǎng)效應管能在很小電流和很低電壓的條件下工作,而且它的制造工藝可以很方便地把很多場(chǎng)效應管集成在一塊硅片上,因此場(chǎng)效應管在大規模集成電路中得到了廣泛的應用。


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