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ic芯片用途及作用-ic芯片的分類(lèi)-如何判斷ic芯片的好壞-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2019-09-12 

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ic芯片用途及作用-ic芯片的分類(lèi)-如何判斷ic芯片的好壞

什么是ic芯片?

本文講ic芯片用途是什么?什么是ic芯片?如何判斷ic芯片的好壞?IC芯片(Integrated Circuit Chip)是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容等)形成的集成電路放在一塊塑基上,做成一塊芯片。IC芯片包含晶圓芯片和封裝芯片,相應 IC 芯片生產(chǎn)線(xiàn)由晶圓生產(chǎn)線(xiàn)和封裝生產(chǎn)線(xiàn)兩部分組成。


ic芯片用途


ic芯片的分類(lèi)有哪些

ic芯片的產(chǎn)品分類(lèi)可以有下面分類(lèi)方法:


(一)集成電路的種類(lèi)一般是以?xún)群w管等電子組件的數量來(lái)分類(lèi)

SSI(小型集成電路),晶體管數10~100個(gè)

MSI(中型集成電路),晶體管數100~1000個(gè)

LSI(大規模集成電路),晶體管數1000~100000

VLSI(超大規模集成電路),晶體管數100000以上。


(二)按功能結構分類(lèi)

集成電路按其功能、結構的不同,可以分為模擬集成電路和數字集成電路兩大類(lèi)。


(三)按制作工藝分類(lèi)

集成電路按制作工藝可分為半導體集成電路和膜集成電路。膜集成電路又分類(lèi)厚膜集成電路和薄膜集成電路。


(四)按導電類(lèi)型不同分類(lèi)

集成電路按導電類(lèi)型可分為雙極型集成電路和單極型集成電路。雙極型集成電路的制作工藝復雜,功耗較大,代表集成電路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等類(lèi)型。


單極型集成電路的制作工藝簡(jiǎn)單,功耗也較低,易于制成大規模集成電路,代表集成電路有CMOS、NMOS、PMOS等類(lèi)型。


(五)按ic芯片用途分類(lèi)

集成電路按用途可分為電視機用集成電路。音響用集成電路、影碟機用集成電路、錄像機用集成電路、電腦(微機)用集成電路、電子琴用集成電路、通信用集成電路、照相機用集成電路、遙控集成電路、語(yǔ)言集成電路、報警器用集成電路及各種專(zhuān)用集成電路。


ic芯片用途及作用

1、ic芯片用途-減少元器件的使用

集成電路的誕生,小規模的集成電路使內容元器件的數量減少,在零散元器件上有了很大的技術(shù)提高。


2、ic芯片用途-產(chǎn)品性能得到有效提高

將元器件都集合到了一起,不僅減少了外電信號的干擾,也在電路設計方面有了很大的提升,提高了運行速度。


3、ic芯片用途-更加方便應用

一種功能對應一種電路,將一種功能集中成一個(gè)集成電路,如此一來(lái),在以后應用中,要什么功能就可以應用相應的集成電路,從而大大方便了應用。


集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線(xiàn)互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個(gè)管殼內,成為具有所需電路功能的微型結構;其中所有元件在結構上已組成一個(gè)整體,使電子元件向著(zhù)微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進(jìn)了一大步。它的英文(integrated circuit)用字母“IC”表示。集成電路技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設計技術(shù),主要體現在加工設備,加工工藝,封裝測試,批量生產(chǎn)及設計創(chuàng )新的能力上。


如何判斷ic芯片的好壞

一、不在路檢測

這種方法是在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的,一般情況下可用萬(wàn)用表測量各引腳對應于接地引腳之間的正、反向電阻值,并和完好的ic進(jìn)行比較。


二、在路檢測

這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測IC各引腳在路(IC在電路中)直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩,是檢測IC最常用和實(shí)用的方法。


直流工作電壓測量

這是一種在通電情況下,用萬(wàn)用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測量;檢測IC各引腳對地直流電壓值,并與正常值相比較,進(jìn)而壓縮故障范圍, 出損壞的元件。測量時(shí)要注意以下8點(diǎn):


(1)萬(wàn)用表要有足夠大的內阻, 少要大于被測電路電阻的10倍以上,以免造成較大的測量誤差。


(2)通常把各電位器旋到中間位置,如果是電視機,信號源要采用標準彩條信號發(fā)生器。


(3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC。可采取如下方法防止表筆滑動(dòng):取一段自行車(chē)用氣門(mén)芯套在表筆尖上,并長(cháng)出表筆尖約0.5mm左右,這既能使表筆尖良好地與被測試點(diǎn)接觸,又能有效防止打滑,即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì )短路。


(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時(shí),應根據該引腳電壓對ic正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進(jìn)行分析, 能判斷ic的好壞。


(5)ic引腳電壓會(huì )受外圍元器件影響。當外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí),或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器,則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同,都會(huì )使引腳電壓發(fā)生變化。


(6)若ic各引腳電壓正常,則一般認為ic正常;若ic部分引腳電壓異常,則應從偏離正常值最大處入手,檢查外圍元件有無(wú)故障,若無(wú)故障,則ic很可能損壞。


(7)對于動(dòng)態(tài)接收裝置,如電視機,在有無(wú)信號時(shí),ic各引腳電壓是不同的。如發(fā)現引腳電壓不該變化的反而變化大,該隨信號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化,就可確定ic損壞。


(8)對于多種工作方式的裝置,如錄像機,在不同工作方式下,ic各引腳電壓也是不同的。


交流工作電壓測量法

為了掌握ic交流信號的變化情況,可以用帶有db插孔的萬(wàn)用表對ic的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。檢測時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋,正表筆插入db插孔;對于無(wú)db插孔的萬(wàn)用表,需要在正表筆串接一只0.1~0.5μf隔直電容。該法適用于工作頻率較低的ic,如電視機的視頻放大級、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同,波形不同,所以所測的數據是近似值,只能供參考。


總電流測量法

該法是通過(guò)檢測IC電源進(jìn)線(xiàn)的總電流,來(lái)判IC好壞的一種方法。由于IC內部絕大多數為直接耦合,IC損壞時(shí)(如某一個(gè)pn結擊穿或開(kāi)路)會(huì )引起后級飽和與截止,使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測量總電流的方法可以判IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降,用歐姆定律計算出總電流值。

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