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如何判斷mos管工作狀態(tài)-mos管工作原理 曲線(xiàn)性特性與分類(lèi)-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2019-01-11 

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如何判斷mos管工作狀態(tài)

如何判斷mos管工作狀態(tài),文中將會(huì )具體描述出來(lái)。mos管的工作狀態(tài)一共有兩種:增強型和耗盡型兩類(lèi)又有N溝道和P溝道之分。


mos管是金屬(metal)、氧化物(oxide)、半導體(semiconductor)場(chǎng)效應晶體管,或者稱(chēng)是金屬—絕緣體(insulator)、半導體。MOS管的source和drain是可以對調的,他們都是在P型backgate中形成的N型區。在多數情況下,這個(gè)兩個(gè)區是一樣的,即使兩端對調也不會(huì )影響器件的性能。這樣的器件被認為是對稱(chēng)的。


如何判斷mos管工作狀態(tài)-N溝道增強型MOS場(chǎng)效應管

(1)vGS對iD及溝道的控制作用

① vGS=0 的情況

從圖1(a)可以看出,增強型MOS管的漏極d和源極s之間有兩個(gè)背靠背的PN結。當柵——源電壓vGS=0時(shí),即使加上漏——源電壓vDS,而且不論vDS的極性如何,總有一個(gè)PN結處于反偏狀態(tài),漏——源極間沒(méi)有導電溝道,所以這時(shí)漏極電流iD≈0。


② vGS>0 的情況

若vGS>0,則柵極和襯底之間的SiO2絕緣層中便產(chǎn)生一個(gè)電場(chǎng)。電場(chǎng)方向垂直于半導體表面的由柵極指向襯底的電場(chǎng)。這個(gè)電場(chǎng)能排斥空穴而吸引電子。


排斥空穴:使柵極附近的P型襯底中的空穴被排斥,剩下不能移動(dòng)的受主離子(負離子),形成耗盡層。吸引電子:將 P型襯底中的電子(少子)被吸引到襯底表面。


(2)導電溝道的形成:

當vGS數值較小,吸引電子的能力不強時(shí),漏——源極之間仍無(wú)導電溝道出現,如圖1(b)所示。vGS增加時(shí),吸引到P襯底表面層的電子就增多,當vGS達到某一數值時(shí),這些電子在柵極附近的P襯底表面便形成一個(gè)N型薄層,且與兩個(gè)N+區相連通,在漏——源極間形成N型導電溝道,其導電類(lèi)型與P襯底相反,故又稱(chēng)為反型層,如圖1(c)所示。vGS越大,作用于半導體表面的電場(chǎng)就越強,吸引到P襯底表面的電子就越多,導電溝道越厚,溝道電阻越小。

開(kāi)始形成溝道時(shí)的柵——源極電壓稱(chēng)為開(kāi)啟電壓,用VT表示。


上面討論的N溝道MOS管在vGS<VT時(shí),不能形成導電溝道,管子處于截止狀態(tài)。只有當vGS≥VT時(shí),才有溝道形成。這種必須在vGS≥VT時(shí)才能形成導電溝道的MOS管稱(chēng)為增強型MOS管。溝道形成以后,在漏——源極間加上正向電壓vDS,就有漏極電流產(chǎn)生。


vDS對iD的影響

如何判斷mos管工作狀態(tài)


如圖(a)所示,當vGS>VT且為一確定值時(shí),漏——源電壓vDS對導電溝道及電流iD的影響與結型場(chǎng)效應管相似。


漏極電流iD沿溝道產(chǎn)生的電壓降使溝道內各點(diǎn)與柵極間的電壓不再相等,靠近源極一端的電壓最大,這里溝道最厚,而漏極一端電壓最小,其值為VGD=vGS-vDS,因而這里溝道最薄。但當vDS較?。╲DS


隨著(zhù)vDS的增大,靠近漏極的溝道越來(lái)越薄,當vDS增加到使VGD=vGS-vDS=VT(或vDS=vGS-VT)時(shí),溝道在漏極一端出現預夾斷,如圖2(b)所示。再繼續增大vDS,夾斷點(diǎn)將向源極方向移動(dòng),如圖2(c)所示。由于vDS的增加部分幾乎全部降落在夾斷區,故iD幾乎不隨vDS增大而增加,管子進(jìn)入飽和區,iD幾乎僅由vGS決定。


如何判斷mos管工作狀態(tài)-N溝道增強型MOS場(chǎng)效應管

如何判斷mos管工作狀態(tài)

(1)結構:

N溝道耗盡型MOS管與N溝道增強型MOS管基本相似。


(2)區別:

耗盡型MOS管在vGS=0時(shí),漏——源極間已有導電溝道產(chǎn)生,而增強型MOS管要在vGS≥VT時(shí)才出現導電溝道。


(3)原因:

制造N溝道耗盡型MOS管時(shí),在SiO2絕緣層中摻入了大量的堿金屬正離子Na+或K+(制造P溝道耗盡型MOS管時(shí)摻入負離子),如圖1(a)所示,因此即使vGS=0時(shí),在這些正離子產(chǎn)生的電場(chǎng)作用下,漏——源極間的P型襯底表面也能感應生成N溝道(稱(chēng)為初始溝道),只要加上正向電壓vDS,就有電流iD。


如果加上正的vGS,柵極與N溝道間的電場(chǎng)將在溝道中吸引來(lái)更多的電子,溝道加寬,溝道電阻變小,iD增大。反之vGS為負時(shí),溝道中感應的電子減少,溝道變窄,溝道電阻變大,iD減小。當vGS負向增加到某一數值時(shí),導電溝道消失,iD趨于零,管子截止,故稱(chēng)為耗盡型。溝道消失時(shí)的柵-源電壓稱(chēng)為夾斷電壓,仍用VP表示。與N溝道結型場(chǎng)效應管相同,N溝道耗盡型MOS管的夾斷電壓VP也為負值,但是,前者只能在vGS<0的情況下工作。而后者在vGS=0,vGS>0。


N溝道增強型MOS管MOS管曲線(xiàn)和電流方程

如何判斷mos管工作狀態(tài)


輸出特性曲線(xiàn)

N溝道增強型MOS管的輸出特性曲線(xiàn)如圖1(a)所示。與結型場(chǎng)效應管一樣,其輸出特性曲線(xiàn)也可分為可變電阻區、飽和區、截止區和擊穿區幾部分。轉移特性曲線(xiàn)


轉移特性曲線(xiàn)如圖1(b)所示,由于場(chǎng)效應管作放大器件使用時(shí)是工作在飽和區(恒流區),此時(shí)iD幾乎不隨vDS而變化,即不同的vDS所對應的轉移特性曲線(xiàn)幾乎是重合的,所以可用vDS大于某一數值(vDS>vGS-VT)后的一條轉移特性曲線(xiàn)代替飽和區的所有轉移特性曲線(xiàn).?iD

與vGS的近似關(guān)系


與結型場(chǎng)效應管相類(lèi)似。在飽和區內,iD與vGS的近似關(guān)系式為

如何判斷mos管工作狀態(tài)


式中IDO是vGS=2VT時(shí)的漏極電流iD。


P溝道耗盡型MOS管

P溝道MOSFET的工作原理與N溝道MOSFET完全相同,只不過(guò)導電的載流子不同,供電電壓極性不同而已。這如同雙極型三極管有NPN型和PNP型一樣。


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