電子分析:MOS管擊穿是什么原因
信息來(lái)源：本站 日期：2017-04-18
靜電放電形成的是短時(shí)大電流，放電脈沖的時(shí)間常數遠小于器件散熱的時(shí)間常數。因此，當靜電放電電流通過(guò)面積很小的pn結或肖特基結時(shí)，將產(chǎn)生很大的瞬間功率密度，形成局部過(guò)熱，有可能使局部結溫達到甚至超過(guò)材料的本征溫度（如硅的熔點(diǎn)1415℃），使結區局部或多處熔化導致pn結短路，器件徹底失效。這種失效的發(fā)生與否，主要取決于器件內部區域的功率密度，功率密度越小，說(shuō)明器件越不易受到損傷。
反偏pn結比正偏pn結更容易發(fā)生熱致失效，在反偏條件下使結損壞所需要的能量只有正偏條件下的十分之一左右。這是因為反偏時(shí)，大部分功率消耗在結區中心，而正偏時(shí)，則多消耗在結區外的體電阻上。對于雙極器件，通常發(fā)射結的面積比其它結的面積都小，而且結面也比其它結更靠近表面，所以常常觀(guān)察到的是發(fā)射結的退化。此外，擊穿電壓高于100V或漏電流小于1nA的pn結（如JFET的柵結），比類(lèi)似尺寸的常規pn結對靜電放電更加敏感。
靜電的基本物理特征為：有吸引或排斥的力量;有電場(chǎng)存在，與大地有電位差;會(huì )產(chǎn)生放電電流。這三種情形會(huì )對電子元件造成以下影響：
1.元件吸附灰塵，改變線(xiàn)路間的阻抗，影響元件的功能和壽命。
2.因電場(chǎng)或電流破壞元件絕緣層和導體，使元件不能工作(完全破壞)。
3.因瞬間的電場(chǎng)軟擊穿或電流產(chǎn)生過(guò)熱，使元件受傷，雖然仍能工作，但是壽命受損。
上述這三種情況中，如果元件完全破壞，必能在生產(chǎn)及品質(zhì)測試中被察覺(jué)而排除，影響較少。如果元件輕微受損，在正常測試中不易被發(fā)現，在這種情形下，常會(huì )因經(jīng)過(guò)多次加工，甚至已在使用時(shí)，才被發(fā)現破壞，不但檢查不易，而且損失亦難以預測。靜電對電子元件產(chǎn)生的危害不亞于嚴重火災和爆炸事故的損失.
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