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電動(dòng)車(chē)控制器75N75型號參數及封裝-MOS在電動(dòng)車(chē)控制器中的應用-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2018-12-04 

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電動(dòng)車(chē)控制器參數型號資料

KIA75NF75產(chǎn)品描述

75NF75是N溝道增強型功率場(chǎng)狀態(tài)特性穩定、快速的效應晶體管開(kāi)關(guān)速度,低熱阻,常用于電信和計算機應用。


KIA75NF75產(chǎn)品特征

RDS(ON)=12.5m? @VGS=10V

超低柵電荷(典型的90納米)

快速交換能力

指定雪崩能量

改進(jìn)的dv/dt能力,堅固性高


KIA75NF75參數范圍

產(chǎn)品型號:KIA75NF75

工作方式:80A/80V

漏源電壓:80V

柵源電壓:±25V

連續漏電流:80A/70A

脈沖漏電流:340A

雪崩電流:20A

雪崩能源:410MJ

最大功耗:240W/100W


KIA75NF75封裝圖

電動(dòng)車(chē)控制器,75NF75


KIA75NF75產(chǎn)品附件詳情

查看詳情,請點(diǎn)擊下圖。

電動(dòng)車(chē)控制器,75NF75


MOS在控制器電路中的工作狀態(tài)

開(kāi)通過(guò)程、導通狀態(tài)、關(guān)斷過(guò)程、截止狀態(tài)、擊穿狀態(tài)。  

MOS主要損耗包括開(kāi)關(guān)損耗(開(kāi)通過(guò)程和關(guān)斷過(guò)程),導通損耗,截止損耗(漏電流引起的,這個(gè)忽略不計),還有雪崩能量損耗。電動(dòng)車(chē)控制器場(chǎng)效應管只要把這些損耗控制在MOS承受規格之內,MOS即會(huì )正常工作,超出承受范圍,即發(fā)生損壞。

而開(kāi)關(guān)損耗往往大于導通狀態(tài)損耗,尤其是PWM沒(méi)完全打開(kāi),處于脈寬調制狀態(tài)時(shí)(對應電動(dòng)車(chē)的起步加速狀態(tài)),而最高急速狀態(tài)往往是導通損耗為主。


MOS管在電動(dòng)車(chē)控制器中的作用

電動(dòng)車(chē)控制器場(chǎng)效應管簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)電機是靠MOS的輸出電流來(lái)驅動(dòng)的,輸出電流越大(為了防止過(guò)流燒壞MOS管,控制器有限流保護),電機扭矩就強,加速就有力。


MOS在電動(dòng)車(chē)控制器中的應用

我們電動(dòng)車(chē)控制器場(chǎng)效應管和平常cmos集成電路中的小功率mos結構是不一樣的。小功率mos是平面型結構。而電動(dòng)車(chē)上上用的功率mos是立體結構。平面型結構是指,mos柵極,源級和漏級都在芯片表面(或者說(shuō)正面),而溝道也在芯片表面橫向排列。(我們常見(jiàn)的教科書(shū)的介紹mos原理一般都是拿平面結構介紹)。而功率mos的立體結構(溝道是深槽立體結構)是柵極和源級引線(xiàn)從芯片正面引出(其實(shí)柵極也不在表面而是內部,只是比較靠近表面),而漏級是從芯片背面引出(其實(shí)整個(gè)芯片背面都是漏級連接在一起的,整個(gè)個(gè)漏級用焊接材料直接焊接在金屬板上,就是mos的金屬背板,一般是銅鍍錫的),所以我們見(jiàn)到的mos一般金屬板和中間引腳(就是漏級)是完全導通的(有些特殊的封裝是可以做到金屬板和中間腳絕緣的)。


功率mos內部從漏級到源級是有一個(gè)二極管的,這個(gè)二極管基本上所有的功率mos都具有,和它本身結構有關(guān)系(不需要單獨制造,設計本身就有)。當然可以通過(guò)改變設計制造工藝,不造出這個(gè)二極管。但是這會(huì )影響芯片功率密度,要做到同樣耐壓和內阻,需要更大的芯片面積(因為結構不同)。大家只是知道這回事就行了。


我們所見(jiàn)的電動(dòng)車(chē)控制器場(chǎng)效應管,其實(shí)內部由成千上萬(wàn)個(gè)小mos管并聯(lián)而成(實(shí)際數量一般是上千萬(wàn)個(gè),和芯片面積和工藝有關(guān))。如果在工作中,有一個(gè)或幾個(gè)小管短路,則整個(gè)mos表現為短路,當然大電流短路mos可能直接燒斷了(有時(shí)表現為金屬板和黑色塑封間開(kāi)裂),又表現為開(kāi)路。大家可能會(huì )想這上千萬(wàn)個(gè)小mos應該很容易出現一個(gè)或幾個(gè)壞的吧,其實(shí)真沒(méi)那么容易,目前的制造工藝基本保證了這些小單位各種參數高度一致性。


它們的各種開(kāi)關(guān)動(dòng)作幾乎完全一致,當然最終燒壞時(shí),肯定有先承受不了的小管先壞。所以管子的穩定性和制造工藝密不可分,差的工藝可能導致這些小管的參數不那么一致。有時(shí)一點(diǎn)小的工藝缺陷(比如一個(gè)1um甚至更小的顆粒如果在關(guān)鍵位置)往往會(huì )造成整個(gè)芯片(缺陷所在的管芯)報廢。


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