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igbt輸出特性曲線(xiàn)、工作區分析-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2024-07-05 

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igbt輸出特性曲線(xiàn)、工作區分析-KIA MOS管


IGBT輸出特性曲線(xiàn)的幾個(gè)工作區:

igbt輸出特性曲線(xiàn)

IGBT輸出特性曲線(xiàn)圖


①正向阻斷區(截止區):

當門(mén)極電壓Vge<Vge(th),IGBT內部MOS溝道被夾斷,IGBT工作在截止區,由于外部電壓Vce的存在,此時(shí)IGBT集電極-發(fā)射極之間存在很小的漏電流Ices。


②有源區(線(xiàn)性放大區):

當門(mén)極電壓Vge≥Vge(th),且Vce》Vge-Vge(th)時(shí),IGBT工作在圖2預夾斷軌跡右側區域,此時(shí)流入到N-基區的電子電流In受到門(mén)極電壓的控制,進(jìn)而限制了IGBT內部PNP晶體管的基極電流,最終空穴電流Ip也受到限制,因此該區域的IGBT集電極電流Ic會(huì )進(jìn)入飽和狀態(tài)(類(lèi)似MOSFET),至于IGBT為什么不稱(chēng)該區域為飽和區,可能是為了與導通后的電壓飽和區分開(kāi)。

igbt輸出特性曲線(xiàn)

由于該區域IGBT的集電極電流主要受門(mén)極電壓控制,因此也稱(chēng)為放大區或有源區。我們常說(shuō)的有源門(mén)極驅動(dòng)或主動(dòng)門(mén)極控制指的就是控制IGBT在該區域的開(kāi)關(guān)軌跡。IGBT在有源區損耗會(huì )很大,應該盡快跨過(guò)該區域。


③飽和區:

當Vge≥Vge(th),且Vce<Vge-Vge(th)時(shí),IGBT處于飽和區(電壓飽和),該區域集電極電流基本不再受門(mén)極電壓控制,主要由外部電路決定。該區域的曲線(xiàn)和MOS類(lèi)似,但是名字卻不一樣,主要是因為IGBT完全導通后的飽和壓降主要取決于電導調制,而MOS的導通壓降主要取決于漏極電流(呈電阻特性)。


④雪崩擊穿區:

當IGBT的集電極-發(fā)射極電壓Vce大于某一特定最高允許電壓Vbrces時(shí),IGBT會(huì )出現雪崩擊穿,器件會(huì )損壞。


⑤反向阻斷區:

我們常用的IGBT都屬于非對稱(chēng)結構,器件的反向電壓阻斷能力要遠小于IGBT的正向電壓阻斷能力。同時(shí)由于工業(yè)現場(chǎng)的很多負載都是阻感負載,在IGBT關(guān)斷時(shí)刻,必須為負載提供續流回路,因此IGBT模塊內部都并聯(lián)了續流二極管,這樣IGBT的反向特性就取決于續流二極管的的正向導通特性。


但是一些特殊的場(chǎng)合需要IGBT具有雙向阻斷能力,因此,才有了反向阻斷的IGBT,也成為逆阻IGBT:RB-IGBT(ReverseBlocking),這類(lèi)器件用的很少,一般很難買(mǎi)到,這時(shí)候可以采用IGBT和二極管串聯(lián)的方式實(shí)現同樣的功能。


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