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功率MOSFET的熱阻特性圖文詳解-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2022-03-17 

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功率MOSFET的熱阻特性圖文詳解-KIA MOS管


功率MOSFET的結(jié)溫影響器件許多工作參數(shù)及使用壽命,數(shù)據(jù)表中提供了一些基本的數(shù)據(jù)來(lái)評(píng)估電路中功率MOSFET的結(jié)溫。


本文主要來(lái)說(shuō)明MOSFET的穩(wěn)態(tài)和動(dòng)態(tài)熱阻的測(cè)量方法,以及它們的限制條件。熱阻特性也直接影響著后面對(duì)于功率MOSFET電流參數(shù)和SOA特性的理解。  


AON6590(40V,0.99mΩ)熱阻

MOSFET 熱阻


結(jié)溫校核曲線  

數(shù)據(jù)表中,功率MOSFET有不同的熱阻值,數(shù)據(jù)表中的熱阻都是在一定的條件下測(cè)試的。


MOSFET反并聯(lián)二極管相當(dāng)于一個(gè)溫度傳感器,一定的溫度對(duì)應(yīng)著一定的二極管的壓降。每一個(gè)硅器件都有自己獨(dú)特的校準(zhǔn)曲線,但是一旦確定,對(duì)于任何的封裝都是有效的。


器件的安裝有標(biāo)準(zhǔn)的形式,如果是表貼的元件,器件安裝在1平方英寸2oz銅皮FR4的電路板PCB上,不是只靠器件本身單獨(dú)散熱來(lái)進(jìn)行測(cè)試。

MOSFET 熱阻


MOSFET 熱阻

圖2:測(cè)試結(jié)溫校核曲線  


MOSFET 熱阻

圖3:VF和結(jié)溫校核曲線,

IF=10mA 


穩(wěn)態(tài)測(cè)量   

將裝在標(biāo)準(zhǔn)PCB上的器件放在靜態(tài)的空氣中,器件上安裝熱電偶,器件通過(guò)一定的功率加熱器件時(shí),當(dāng)連接到管腳的熱電偶達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài),測(cè)量環(huán)境空氣的溫度TA和器件封裝管腳的溫度TC或TL,同時(shí)立刻切斷加熱功率,在10us以內(nèi)器件沒(méi)有冷卻時(shí),二極管電流切改為10mA,迅速測(cè)量二管極的壓降VF,如圖4所示。測(cè)量二極管的壓降時(shí),使用KELVIN連接法。  

MOSFET 熱阻

圖4:熱阻的測(cè)量電路


加熱功率或功耗就是二極管的電流乘以二極管壓降:   PF = IF * VF   根據(jù)在10mA測(cè)得的二極管的壓降VF,對(duì)應(yīng)圖1的校核曲線,就可以得到器件的結(jié)溫TJ,穩(wěn)態(tài)熱阻結(jié)到環(huán)境空氣RqJA、結(jié)到殼RqJC或結(jié)到管腳RqJL,


可以從下面公式計(jì)算:   RqJA = (TJ-TA)/PF   RqJC = (TJ-TC)/PF   RqJL = (TJ-TL)/PF   雖然器件RqJA、RqJC或RqJL和實(shí)際偏差只有幾個(gè)百分點(diǎn),但是,通常使用20-30%的裕量來(lái)設(shè)定最大的定義值。   


瞬態(tài)熱阻   

瞬態(tài)熱阻用來(lái)測(cè)量脈沖功率加在器件上時(shí)器件的熱特性,對(duì)于小占空比、低頻率的脈沖負(fù)載更為重要。AON6590的典型瞬態(tài)熱阻曲線如圖6所示。

MOSFET 熱阻

圖6:規(guī)一化最大瞬態(tài)熱阻   


瞬態(tài)熱阻測(cè)量的方法和穩(wěn)態(tài)熱阻的測(cè)量方法相同,測(cè)量單脈沖曲線時(shí),器件通過(guò)單脈沖功率,然后關(guān)斷單脈沖功率,10us內(nèi),將10mA電流流過(guò)二極管,測(cè)量二極管的壓降VF。


按照X軸的脈沖功率寬度,測(cè)量每一個(gè)點(diǎn)的值。每一點(diǎn)的瞬態(tài)熱阻由下面公式計(jì)算:   PF = IF*VF   ZqJA = (TJ-TA)/PF   ZqJC = (TJ-TC)/PF   ZqJL = (TJ-TL)/PF   規(guī)一化值就是將上述值除以對(duì)應(yīng)的穩(wěn)態(tài)的熱阻值。


脈沖功率寬度非常低時(shí),由于硅片、封裝和FR4板的熱容形成的時(shí)間常數(shù)影響結(jié)溫上升率,因此測(cè)量的結(jié)溫也非常小。對(duì)于同樣的功率大小,脈沖時(shí)間短,熱阻表現(xiàn)得越小,如圖6的曲線所示,其它的曲線也一樣用上述測(cè)量方法得到。


固定的占空比,施加電流脈沖寬度跟隨瞬態(tài)熱阻曲線變化。在每一個(gè)測(cè)量條件下,在切斷加熱電流脈沖后10us內(nèi)、二極管流過(guò)10mA電流測(cè)量二極管的電壓VF前,器件要求達(dá)到穩(wěn)態(tài)。


通常,可以從得到的熱網(wǎng)絡(luò)模型中,分解得出這些曲線,以符合單脈沖曲線。從等效電路的觀點(diǎn),熱阻網(wǎng)絡(luò)可以等效為三級(jí)或四級(jí)的RC網(wǎng)絡(luò),如圖7所示。


每一級(jí)R和C的值,由相應(yīng)的滿足測(cè)量的單脈沖曲線來(lái)決定,對(duì)于占空比的變化是脈沖寬度的函數(shù),這個(gè)模型可以用來(lái)得到熱阻曲線。基于單脈沖曲線,在瞬態(tài)熱加熱曲線組中,使用3或4階的RC網(wǎng)絡(luò)仿真,可以得到其它的曲線。


MOSFET 熱阻

圖7:瞬態(tài)熱阻的模型  


有效熱阻受許多因素影響,如銅皮的面積和布局、鄰近器件的加熱、器件周圍空氣流動(dòng)、功率耗散的能力、PCB板和器件管腳焊接質(zhì)量、內(nèi)部的封裝質(zhì)量等,因此,數(shù)據(jù)表中的熱阻曲線只是提供一種參考,如果需要更為精確的溫度,最好在系統(tǒng)上測(cè)量器件的實(shí)際的溫度。




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