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晶體二極管開(kāi)關(guān)轉換過(guò)程圖文詳解-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2021-08-03 

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晶體二極管開(kāi)關(guān)轉換過(guò)程圖文詳解-KIA MOS管


二極管開(kāi)關(guān)特性

在數字電子技術(shù)門(mén)電路中,在脈沖信號的作用下,二極管時(shí)而導通,時(shí)而截止,相當于開(kāi)關(guān)的“接通”和“關(guān)斷”。二極管由截止到開(kāi)通所用的時(shí)間稱(chēng)為開(kāi)通時(shí)間,由開(kāi)通到截止所用的時(shí)間稱(chēng)為關(guān)斷時(shí)間。


研究其開(kāi)關(guān)特性,就是分析導通和截止轉換快慢的問(wèn)題,當脈沖信號頻率很高時(shí),開(kāi)關(guān)狀態(tài)變化的速率就高。


作為一種開(kāi)關(guān)器件,其開(kāi)關(guān)的速度越快越好,但是二極管是由硅或鍺等半導體材料通過(guò)特殊工藝制成的電子器件,有一個(gè)最高極限工作速度,當開(kāi)關(guān)速度大于極限工作速度,二極管就不能正常工作。


要使二極管安全可靠快速地工作,外界的脈沖信號高低電平的轉換頻率要小于二極管開(kāi)關(guān)的頻率。


如圖1所示,輸入端施加一脈沖信號Vi,其幅值為+V1和-V2。當加在二極管兩端的電壓為+V1,二極管導通;當加在二極管兩端的電壓為-V2,二極管截止,輸入、輸出波形如圖2所示。


二極管兩端的電壓由正向偏置+V1變?yōu)榉聪蚱?V2時(shí),二極管并不瞬時(shí)截止,而是維持一段時(shí)間ts后,電流才開(kāi)始減小,再經(jīng)tf后,反向電流才等于靜態(tài)特性上的反向漂移電流I0,其值很小。


ts稱(chēng)為存貯時(shí)間,tf稱(chēng)為下降時(shí)間,ts+tf=trr稱(chēng)為關(guān)斷時(shí)間。二極管兩端的電壓由反向偏置-V2變?yōu)檎蚱?V1時(shí),二極管也不是瞬時(shí)導通,而是經(jīng)過(guò)導通延遲時(shí)間和上升時(shí)間后才穩定導通,這段時(shí)間稱(chēng)為開(kāi)通時(shí)間。


顯然二極管的導通和截止時(shí)刻總是滯后加于其兩端高、低電平的時(shí)刻。二極管從截止轉為正向導通的開(kāi)通時(shí)間,與從導通轉向截止時(shí)的關(guān)斷時(shí)間相比很小,其對開(kāi)關(guān)速度的影響很小,在分析討論中主要考慮關(guān)斷時(shí)間的影響。




二極管開(kāi)關(guān)時(shí)間延遲原因分析

在半導體中存在兩種電流,因載流子濃度不同形成的電流為擴散電流,依靠電場(chǎng)作用形成的電流為漂移電流。當把P型半導體和N型半導體靠近,在兩種半導體的接觸處,因為載流子濃度差就會(huì )產(chǎn)生按指數規律衰減的擴散運動(dòng)。


在擴散過(guò)程中,電子和空穴相遇就會(huì )復合,在交界處產(chǎn)生內電場(chǎng),內電場(chǎng)會(huì )阻止擴散運動(dòng)的進(jìn)行,而促進(jìn)漂移運動(dòng),最終,擴散運動(dòng)和漂移運動(dòng)達到動(dòng)態(tài)平衡。


當二極管兩端外加電壓發(fā)生變化時(shí),一方面PN結寬窄變化,勢壘區內的施主陰離子和受主陽(yáng)離子數量會(huì )改變;另一方面擴散的多子和漂移的少子數量也會(huì )因電壓變化而改變。


這種情況與電容的作用類(lèi)似,分別用勢壘電容和擴散電容來(lái)表示。當二極管兩端外加正向電壓時(shí),它削弱PN結的內電場(chǎng),擴散運動(dòng)加強,漂移運動(dòng)減弱,擴散和漂移的動(dòng)態(tài)平衡被破壞,擴散運動(dòng)大于漂移運動(dòng),結果導致P區的多子空穴流向N區,N區的多子電子流向P區,進(jìn)入P區的電子和進(jìn)入N區的空穴分別成為該區的少子,因此,在P區和N區的少子比無(wú)外加電壓時(shí)多,這些多出來(lái)的少子稱(chēng)為非平衡少子。


在正向電壓作用下,P區空穴越過(guò)PN結,在N區的邊界上進(jìn)行積累,N區電子越過(guò)PN結,在P區的邊界上進(jìn)行積累,這些非平衡少子依靠積累時(shí)濃度差在N區進(jìn)行擴散,形成一定的濃度梯度發(fā)布,靠近邊界濃度高,遠離邊界濃度低。


空穴在向N區擴散過(guò)程中,部分與N區中的多子電子相遇而復合,距離PN結邊界越遠,復合掉的空穴就越多。


反之亦然,電子在向P區擴散過(guò)程中,部分電子與P區中的多子空穴相遇而復合,距離PN結邊界越遠,復合掉的電子就越多。二極管正向導通時(shí),非平衡少數載流子就會(huì )在邊界附近積累,產(chǎn)生電荷存儲效應。


當輸入電壓突然由高電平變?yōu)榈碗娖綍r(shí),P區存儲的電子、N區存儲的空穴不會(huì )瞬時(shí)消失,而是通過(guò)兩個(gè)途徑逐漸減少。


首先在反向電場(chǎng)作用下,P區電子被拉回N區,N區空穴被拉回P區,形成反向漂移電流I0。其次與多數載流子復合而消失。


在這些存儲電荷突然消失之前,PN結勢壘區寬度不變,仍然很窄,所以此時(shí)反向電流較大并基本上保持不變,還要持續一段時(shí)間后,P區和N區所存儲的電荷已明顯減少,勢壘區才逐漸變寬,再經(jīng)過(guò)一段下降時(shí)間,反向電流逐漸減小到正常反向飽和電流的數值I0,二極管截止,因此二極管關(guān)斷時(shí)間又稱(chēng)為反向恢復時(shí)間。


當輸入電壓突然由低電平變?yōu)楦唠娖綍r(shí),PN結將由寬變窄,勢壘電容放電后二極管才會(huì )導通,導通時(shí)間比關(guān)斷很短,可以忽略,流過(guò)二極管的電流隨擴散存儲電荷的增加而增加,逐步達到穩定值。


二極管在開(kāi)關(guān)轉換過(guò)程中出現的開(kāi)關(guān)時(shí)間延遲,實(shí)質(zhì)上是由于PN結的電容效應所引起,二極管的暫態(tài)開(kāi)關(guān)過(guò)程就是PN結電容的充、放電過(guò)程。


二極管由截止過(guò)渡到導通,相當于電容充電。二極管由導通過(guò)渡到截止,相當于電容放電。二極管結電容小,充、放電時(shí)間短,過(guò)渡過(guò)程短,則二極管的暫態(tài)開(kāi)關(guān)特性就好,開(kāi)關(guān)速度就快。


延遲時(shí)間就是電容充放電荷所需要的時(shí)間,延遲時(shí)間的長(cháng)短既決定于二極管本身的結構,也與外部電路有關(guān)。二極管PN結面積大,管內存儲電荷就多,延遲時(shí)間就長(cháng)。


此外,外部電路所決定的正向電流大,存儲電荷就會(huì )多,則關(guān)斷時(shí)間就大;反向電流大,存儲電荷消失得就快,則關(guān)斷時(shí)間就小。


為了提高開(kāi)關(guān)速度,降低延遲時(shí)間,一般開(kāi)關(guān)管結面積制作得比較小,使其存儲電荷少,同時(shí)通過(guò)二極管內部的“摻金”,可以使存儲電荷很快復合而消失,減小延遲時(shí)間。


晶體二極管開(kāi)關(guān)轉換過(guò)程實(shí)驗觀(guān)察

為了觀(guān)察二極管的開(kāi)關(guān)特性,可以按照圖1所示電路進(jìn)行實(shí)驗。首先確定加于二極管兩端的脈沖信號,其幅值和周期要合適,否則,就可能花費很長(cháng)時(shí)間去調試才能觀(guān)察到二極管的開(kāi)關(guān)過(guò)程時(shí)間的延遲,還有可能導致二極管損壞。


選擇脈沖信號要根據二極管的主要工作參數,如二極管最大正向工作電流,二極管最大反向工作電壓,反向恢復時(shí)間等。依據這些參數,確定脈沖信號的幅值。


信號周期的選擇一定要大于反向恢復時(shí)間trr,選取一定的負載連接電路,通過(guò)雙蹤示波器來(lái)觀(guān)察二極管開(kāi)關(guān)轉換時(shí)間的延遲,分別改變信號周期和負載,記錄多次的實(shí)驗結果,進(jìn)一步分析二極管開(kāi)關(guān)轉換過(guò)程延遲時(shí)間隨脈沖信號周期和外部負載變化的關(guān)系。


延遲時(shí)間對于二極管結面積和負載電阻均存在極小值,在設計開(kāi)關(guān)電路時(shí),二極管結面積和負載電阻應該選取該極值點(diǎn)對應的最佳值,N區長(cháng)度也存在最佳值,


理論上應為器件加載在所需臨界擊穿電壓值而且剛好處于穿通狀態(tài)時(shí)的長(cháng)度值;P區和N區的長(cháng)度沒(méi)有太大的影響,但應稍大于各自的穿通長(cháng)度,濃度則應盡量高,N區摻雜濃度越低越好。


小結

晶體二極管的結構決定了其作為開(kāi)關(guān)使用時(shí)的特性,其在數字電子技術(shù)門(mén)電路中門(mén)的打開(kāi)和關(guān)閉時(shí)需要一段時(shí)間,不同結構的管子其時(shí)間的長(cháng)短是有差別的。


隨著(zhù)現代電子技術(shù)的快速發(fā)展,要求晶體二極管的開(kāi)關(guān)速度越來(lái)越快,因此,對器件結構和工作電路的設計要求也越來(lái)越高,在研究晶體二極管開(kāi)關(guān)時(shí)間的延遲過(guò)程的實(shí)驗中,輸入信號的周期、幅度、電路負載對延遲時(shí)間的觀(guān)察影響較大,一定的開(kāi)關(guān)電路只有多次的實(shí)驗,才能清楚地觀(guān)察到二極管的開(kāi)關(guān)轉換過(guò)程時(shí)間的延遲。



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