好文必看|MOS電容結構圖文解析-KIA MOS管
信息來(lái)源:本站 日期:2020-12-10
MOS結構具有Q隨V變化的電容效應,形成MOS電容。
絕緣層是理想的,不存在任何電荷,絕對不導電;
半導體足夠厚,不管加什么柵電壓,在到達接觸點(diǎn)之前總有一個(gè)零電場(chǎng)區(硅體區)
絕緣層與半導體界面處不存在界面陷阱電荷;
金屬與半導體之間不存在功函數差。
負柵壓:多子的積累,體內多子順電場(chǎng)方向被吸引到S表面,
能帶變化:空穴在表面堆積,能帶上彎
絕緣層是理想的,不存在任何電荷;Si和SiO2界面處不存在界面陷阱電荷;
金半功函數差為0。
系統熱平衡態(tài),能帶平,表面凈電荷為0。
小的正柵壓:多子耗盡,表面留下帶負電的受主離子,不可動(dòng),且由半導體濃度的限制,形成負的空間電荷區。
能帶變化:P襯表面正空穴耗盡,濃度下降,能帶下彎,Xd:空間電荷區(耗盡層、勢壘區)的寬度。
注意:正柵壓↑,增大的電場(chǎng)使更多的多子耗盡,Xd↑,能帶下彎增加。
大的正柵壓:能帶下彎程度↑,表面EFi到EF下,表面具n型。
P襯表面Na-面電荷密度↑,同時(shí)P襯體內的電子被吸引到表面,表面出現電子積累,反型層形成。
注意:柵壓↑反型層電荷數增加,反型層電導受柵壓調制。閾值反型后,Xd↑最大值Xdt不再擴展。
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