細說(shuō)電力MOSFET特性、參數、注意事項、種類(lèi)、特點(diǎn)-KIA MOS管
信息來(lái)源：本站 日期：2020-08-28
電力MOSFET又名電力場(chǎng)效應晶體管分為結型和絕緣柵型，通常主要指絕緣柵型中的MOS型（Metal Oxide Semiconductor FET），簡(jiǎn)稱(chēng)電力MOSFET（Power MOSFET），結型電力場(chǎng)效應晶體管一般稱(chēng)作靜電感應晶體管。
按導電溝道可分為P溝道和N溝道：
1、耗盡型——當柵極電壓為零時(shí)漏源極之間就存在導電溝道
2、增強型——對于N（P）溝道器件，柵極電壓大于（小于）零時(shí)才存在導電溝道，電力MOSFET主要是N溝道增強型。
1、用柵極電壓來(lái)控制漏極電流
2、驅動(dòng)電路簡(jiǎn)單，需要的驅動(dòng)功率小
3、開(kāi)關(guān)速度快，工作頻率高
4、熱穩定性?xún)?yōu)于GTR
5、電流容量小，耐壓低，一般只適用于功率不超過(guò)10kW的電力電子裝置
電力MOSFET的基本特性詳解：
（一）靜態(tài)特性
（1）轉移特性
1.指漏極電流ID和柵源間電壓UGS的關(guān)系，反映了輸入電壓和輸出電流的關(guān)系。
2.ID較大時(shí)，ID與UGS的關(guān)系近似線(xiàn)性，曲線(xiàn)的斜率被定義為MOSFET的跨導Gfs，即：
3.是電壓控制型器件，其輸入阻抗極高，輸入電流非常小。
電力MOSFET的轉移特性和輸出特性 a) 轉移特性
（2）輸出特性
1.是MOSFET的漏極伏安特性。
2.截止區（對應于GTR的截止區）、飽和區（對應于GTR的放大區）、非飽和區（對應于GTR的飽和區）三個(gè)區域，飽和是指漏源電壓增加時(shí)漏極電流不再增加，非飽和是指漏源電壓增加時(shí)漏極電流相應增加。
3.工作在開(kāi)關(guān)狀態(tài)，即在截止區和非飽和區之間來(lái)回轉換。
4.本身結構所致，漏極和源極之間形成了一個(gè)與MOSFET反向并聯(lián)的寄生二極管。
5.通態(tài)電阻具有正溫度系數，對器件并聯(lián)時(shí)的均流有利。
電力MOSFET的轉移特性和輸出特性 b) 輸出特性
（3）動(dòng)態(tài)特性
1.開(kāi)通過(guò)程
開(kāi)通延遲時(shí)間td(on)
電流上升時(shí)間tr
電壓下降時(shí)間tfv
開(kāi)通時(shí)間ton= td(on)+tr+ tfv
2.關(guān)斷過(guò)程
關(guān)斷延遲時(shí)間td(off)
電壓上升時(shí)間trv
電流下降時(shí)間tfi
關(guān)斷時(shí)間toff = td(off)+trv+tfi
3.MOSFET的開(kāi)關(guān)速度和其輸入電容的充放電有很大關(guān)系，可以降低柵極驅動(dòng)電路的內阻Rs，從而減小柵極回路的充放電時(shí)間常數，加快開(kāi)關(guān)速度。
電力MOSFET的開(kāi)關(guān)過(guò)程 a)測試電路 b) 開(kāi)關(guān)過(guò)程波形不存在少子儲存效應，因而其關(guān)斷過(guò)程是非常迅速的。開(kāi)關(guān)時(shí)間在10~100ns之間，其工作頻率可達100kHz以上，是主要電力電子器件中最高的。在開(kāi)關(guān)過(guò)程中需要對輸入電容充放電，仍需要一定的驅動(dòng)功率，開(kāi)關(guān)頻率越高，所需要的驅動(dòng)功率越大。
除跨導Gfs、開(kāi)啟電壓UT以及td(on)、tr、td(off)和tf之外還有：
(1)漏極電壓UDS——電力MOSFET電壓定額
(2)漏極直流電流ID和漏極脈沖電流幅值IDM——電力MOSFET電流定額
(3)柵源電壓UGS—— UGS>20V將導致絕緣層擊穿 。
(4)極間電容——極間電容CGS、CGD和CDS
間加正向電壓使N型半導體中的多數載流子-電子由源極出發(fā)，經(jīng)過(guò)溝道到達漏極形成漏極電流ID。
1、防止靜電擊穿
靜電擊穿有兩種形式：一是電壓型，即柵極的薄氧化層發(fā)生擊穿而形成針孔，使柵極和源極間短路，或者使柵極和漏極間短路；
二是功率型，即金屬化薄膜鋁條被熔斷，造成柵極開(kāi)路或者是源極開(kāi)路。造成靜電擊穿的電荷源可能是器件本身，也可能是與之接觸的外部帶電物體，或帶電人體。在干燥環(huán)境中，活動(dòng)的人體電位可達數千伏甚至上萬(wàn)伏，所以人體是引起電力MOSFET靜電擊穿的主要電荷源之一。
防止靜電擊穿時(shí)應注意：
(1)在MOSFET測試和接人電路之前，應存放在靜電包裝袋、導電材料或金屬容器中，不能放在塑料盒或塑料袋中。取用時(shí)應拿管殼部分而不是引線(xiàn)部分。工作人員需通過(guò)腕帶良好接地。
(2)將MOSFET接入電路時(shí)，工作臺和烙鐵都必須良好接地，焊接時(shí)電烙鐵功率應不超過(guò)25W，最好是用內熱式烙鐵。先焊柵極，后焊漏極與源極。
(3)在測試MOSFET時(shí)，測量?jì)x器和工作臺都必須良好接地，并盡量減少相同儀器的使用次數和使用時(shí)間，從而盡快作業(yè)。MOsFET的三個(gè)電極未全部接入測試儀器或電路前．不要施加電壓。改換測試范圍時(shí)，電壓和電流都必須先恢復到零。
(4)注意柵極電壓不要過(guò)限。有些型號的電力MOSFET內部輸入端接有齊納保護二極管，這種器件柵源間的反向電壓不得超過(guò)0．3V，對于內部未設齊納保護：極管的器件，應在柵源同外接齊納保護二極管或外接其他保護電路。
(5)使用MOSFET時(shí)，盡最不穿易產(chǎn)生靜電荷的服裝(如尼龍服裝)。
(6)在操作現場(chǎng)，要盡量回避易帶電的絕緣體(特別是化學(xué)纖維和靼料易帶電)和使用導電性物質(zhì)。
2、防止偶然性振蕩損壞器件
(1)場(chǎng)效應晶體管互導大小與工作區有關(guān)，電壓越低則越高。
(2)結型場(chǎng)效應晶體管的豫、漏極可以互換使用。
(3)絕緣柵型場(chǎng)效應晶體管．在柵極開(kāi)路時(shí)極易受周?chē)艌?chǎng)作用，會(huì )產(chǎn)生瞬問(wèn)高電壓使柵極擊穿。故在存放時(shí)，應將三個(gè)引腳短路，防止靜電感應電荷擊穿絕緣柵。
(4)工作點(diǎn)的選擇，應不得超過(guò)額定漏源電壓、柵源電壓、耗散功率及最大電流所允許的數值。
(5)測試絕緣柵場(chǎng)效應晶體管時(shí)，測試儀器應良好接地，以免擊穿柵極。
(6)需采取防潮措施，防止由于輸入阻抗下降造成場(chǎng)效應晶體管性能差。
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