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開(kāi)關(guān)電源待機功耗問(wèn)題該如何解決 圖文深度解析-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2019-08-30 

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開(kāi)關(guān)電源待機功耗問(wèn)題該如何解決 圖文深度解析

開(kāi)關(guān)電源是一種高頻化電能轉換裝置,是電源供應器的一種。其功能是將一個(gè)位準的電壓,透過(guò)不同形式的架構轉換為用戶(hù)端所需求的電壓或電流。


現在做電源,除了效率以外,空載或者開(kāi)關(guān)電源待機功耗也變得越來(lái)越重要了。這不僅是因為各種各樣的能效標準的執行,也確實(shí)很符合實(shí)際應用的需求,因為大部分的用電設備都長(cháng)期工作在待機狀態(tài)。以離線(xiàn)式的AC/DC電源為例,不同的應用要求不一樣,有500mW、300mW、再到100mW,甚至是很多充電器所追求的10mW以下。下面我們就對開(kāi)關(guān)電源的待機功耗進(jìn)行分析。


(一)輸入部分損耗

1、脈沖電流造成的共模電感T的內阻損耗加大

適當設計共模電感,包括線(xiàn)徑和匝數


2、放電電阻上的損耗

在符合安規的前提下加大放電電阻的組織


3、熱敏電阻上的損耗

在符合其他指標的前提下減小熱敏電阻的阻值


開(kāi)關(guān)電源,開(kāi)關(guān)電源待機功耗


(二)啟動(dòng)損耗

普通的啟動(dòng)方法,開(kāi)關(guān)電源啟動(dòng)后啟動(dòng)電阻回路未切斷,此損耗持續存在。


改善方法:恒流啟動(dòng)方式啟動(dòng),啟動(dòng)完成后關(guān)閉啟動(dòng)電路降低損耗。


開(kāi)關(guān)電源,開(kāi)關(guān)電源待機功耗


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(三)與開(kāi)關(guān)電源工作相關(guān)的損耗


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(四)鉗位電路損耗


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有放電電阻存在,mos開(kāi)關(guān)管每次開(kāi)關(guān)都會(huì )產(chǎn)生放電損耗


改善方法:用TVS鉗位如下圖,可免除電阻放電損耗(注意:此處只能降低電阻放電損耗,漏感能量引起的尖峰損耗是不能避免的)


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當然最根本的改善辦法是,降低變壓器漏感。


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(五)供電繞組的損耗

電源芯片是需要一定的電流和電壓進(jìn)行工作的,如果Vcc供電電壓越高損耗越大。


改善方法:由于IC內部消耗的電流是不變的,在保證芯片能在安全工作電壓區間的前提下盡量降低Vcc供電電壓!


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(六)變壓器的損耗

由于待機時(shí)有效工作頻率很低,并且一般限流點(diǎn)很小,磁通變化小,磁芯損耗很小,對待機影響不大,但繞組損耗是不可忽略的。


變壓器繞組引起的損耗

繞組的層與層之間的分布電容的充放電損耗(分布電容在開(kāi)關(guān)MOS管關(guān)斷時(shí)充電,在開(kāi)關(guān)MOS管開(kāi)通時(shí)放電引起的損耗。)


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當測試mos管電流波形時(shí),剛開(kāi)啟的時(shí)候有個(gè)電流尖峰主要由變壓器分布電容引起。


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改善方法:在繞組層與層之間加絕緣膠帶,來(lái)減少層間分布電容。


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(七)開(kāi)關(guān)管MOSFET上的損耗

mos損耗包括:導通損耗,開(kāi)關(guān)損耗,驅動(dòng)損耗。其中在待機狀態(tài)下最大的損耗就是開(kāi)關(guān)損耗。


改善辦法:降低開(kāi)關(guān)頻率、使用變頻芯片甚至跳頻芯片(在空載或很輕負載的情況下芯片進(jìn)入間歇式振蕩)


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(八)整流管上的吸收損耗

輸出整流管上的結電容與整流管的吸收電容在開(kāi)關(guān)狀態(tài)下引起的尖峰電流反射到原邊回路上,引起的開(kāi)關(guān)損耗。另外還有吸收電路上的電阻充放電引起的損耗。


改善方法:在其他指標允許的前提下盡量降低吸收電容的容值,降低吸收電阻的阻值。


當然還有整流管上的開(kāi)關(guān)損耗、導通損耗和反向恢復損耗,這應該在允許的情況下盡量選擇導通壓降低和反向恢復時(shí)間短的二極管。


開(kāi)關(guān)電源,開(kāi)關(guān)電源待機功耗


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(九)輸出反饋電路的損耗


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開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)品廣泛應用于工業(yè)自動(dòng)化控制、軍工設備、科研設備、LED照明、工控設備、通訊設備、電力設備、儀器儀表、醫療設備、半導體制冷制熱、空氣凈化器,電子冰箱,液晶顯示器,LED燈具,通訊設備,視聽(tīng)產(chǎn)品,安防監控,LED燈帶,電腦機箱,數碼產(chǎn)品和儀器類(lèi)等領(lǐng)域。


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